Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #293744276 à vendre en France

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Test de Wafer et métrologie
Fabricant
AMAT / APPLIED MATERIALS
Modèle
Reticle NanoSEM 3D
ID: 293744276
Style Vintage: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) 2004 vintage.
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