Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #293744276 à vendre en France
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ID: 293744276
Style Vintage: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
2004 vintage.
MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS Reticle Nand SEM 3D est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui peut parfaitement caractériser les caractéristiques les plus fines des motifs de plaquettes. Il utilise des technologies brevetées de processus d'écriture directe pour fournir une précision et une précision inégalées lors de la définition de caractéristiques à haute résolution sur les substrats de wafer. Il est spécifiquement conçu pour répondre aux exigences des industries des semi-conducteurs et des nanotechnologies, leur fournissant l'expertise la plus avancée en matière d'essais, d'inspection et d'analyse des plaquettes. AMAT Reticle NintersectoriSEM 3D combine de nombreuses fonctionnalités telles qu'un microscope électronique à balayage haute puissance et un système de reconstruction d'images 3D pour créer des images 3D détaillées d'un substrat de plaquettes à l'échelle nanométrique. Cela donne aux utilisateurs une précision et une précision inégalées lors de l'analyse des caractéristiques haute résolution sur la plaquette. Il est également en mesure de fournir un test automatisé des plaquettes et des dispositifs de nanostructure qui est crucial pour garantir la performance des dispositifs et des économies de coûts. En outre, MATÉRIAUX APPLIQUÉS Reticle Npendant SEM 3D dispose d'analyseurs plein champ qui peuvent effectuer une variété d'inspections et de mesures sur toutes les zones de la plaquette. Il peut analyser les défauts au niveau micro et nanométrique, y compris les défauts d'interface, les défauts cristallins, les vides de ligne et les pannes de ligne électrique. Cette capacité d'analyse complète aide les utilisateurs à identifier rapidement les caractéristiques indésirables qui pourraient entraîner des dysfonctionnements, des coûts de production plus élevés ou des rendements réduits. Reticle SEM 3D comprend également une unité de métrologie hyper-précise qui permet de déterminer les dimensions précises des structures nanofabriquées avec une précision de sous-microns. Ceci permet de contrôler systématiquement le traitement des plaquettes et de minimiser la perte de rendement. MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS Reticle NintersectoriSEM 3D permet également aux utilisateurs de profiler la profondeur en utilisant l'imagerie tridimensionnelle. Cela permet aux utilisateurs de calculer des courbes de profil de profondeur précises et donc d'évaluer quantitativement le contrôle des processus. AMAT Reticle NintersectoriSEM 3D est une machine de test et de métrologie de plaquettes très sophistiquée, qui présente d'immenses avantages lors de l'analyse et de la définition de caractéristiques à haute résolution sur plaquettes. C'est un outil crucial pour les industries des semi-conducteurs et des nanotechnologies, car il fournit une précision et une précision inégalées lors de l'inspection et de l'analyse des surfaces des plaquettes.
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