Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #9225946 à vendre en France
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ID: 9225946
Style Vintage: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM)
Process: Mask critical dimension (CD) measurement
Main module
Operation panel
Network panel
Pump
UPS
2004 vintage.
MATÉRIAUX D'AMAT/APPLIQUÉS Reticle NponiSEM 3D est un équipement avancé de test et de métrologie de plaquettes qui offre des performances supérieures pour l'imagerie et l'analyse 3D ultra haute résolution. Le système offre une précision et une précision inégalées, permettant aux utilisateurs d'effectuer une variété de mesures et de tâches sur des matériaux de plaquettes délicats. AMAT Reticle Nand SEM 3D utilise un microscope électronique à balayage (SEM) pour effectuer des images et des mesures avec une résolution nanométrique. Il est doté d'un pistolet basse résolution pour une imagerie plus précise et une charge améliorée dans les matériaux et les surfaces. Il dispose également d'un étage échantillon motorisé en X, Y et Z axes, ce qui le rend polyvalent et adapté à une variété d'exigences. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Reticle NintersectoriSEM 3D comprend une variété de fonctionnalités pour assurer la précision et la précision de l'imagerie. Ceux-ci comprennent une large gamme d'options de grossissement (jusqu'à 50 000 x) pour l'imagerie 3D et la numérisation, ainsi que la capacité de générer des images haute résolution avec un champ de vision allant de micromètres à des dizaines de micromètres. Il est également équipé d'une unité de focalisation du faisceau d'électrons et d'une colonne d'ions remplie de gaz qui permettent une large gamme de possibilités d'énergie et de profondeur. En plus de ses capacités d'imagerie, Reticle SEM 3D est également équipé de plusieurs outils de métrologie pour améliorer sa fonctionnalité. Il s'agit notamment d'une variété de détecteurs, tels qu'un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffusés et un détecteur à rayons X dispersif d'énergie, ainsi qu'une machine d'alignement optique automatisée. AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle Nand SEM 3D dispose également d'une interface utilisateur intuitive et d'une suite logicielle. Le logiciel fournit des fonctionnalités avancées d'analyse de données, d'automatisation, de visualisation et de collaboration, permettant aux utilisateurs de maximiser pleinement et de profiter des capacités de l'outil. En outre, le logiciel offre des capacités de déclaration pour assurer l'exactitude et l'exhaustivité des données pour des ensembles de données et des échantillons complexes. AMAT Reticle Nof SEM 3D est un atout avancé de test de plaquettes et de métrologie qui fournit des capacités d'imagerie et de métrologie incroyables avec des fonctionnalités de pointe et des solutions logicielles intuitives. Avec sa précision et ses performances supérieures, APPLIED MATERIALS Reticle NintersectoriSEM 3D est le modèle parfait pour obtenir des résultats précis dans les tâches et les matériaux les plus délicats.
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