Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #9269031 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle Nand SEM 3D est le matériel d'essai et de métrologie de plaquettes le plus avancé pour la recherche et le développement de semi-conducteurs. Il offre des vues 3D inédites des structures sur les plaquettes semi-conductrices. Le système permet aux concepteurs et aux scientifiques d'analyser rapidement et précisément les structures des puces pour comprendre les modes de défaillance électrique et optimiser la conception. L'AMAT Reticle SEM 3D dispose d'une grande chambre équipée d'un canon à électrons haute performance, d'une électronique numérique de traitement du signal, de contrôleurs de mouvement et d'autres composants pour maximiser l'imagerie et l'analyse des caractéristiques critiques. La chambre est scellée sous vide pour permettre le balayage monochromatique de la plaquette et l'imagerie plein champ. Il dispose d'une unité d'imagerie intégrée Nfor SIMS, qui fonctionne à l'aide d'une machine intégrée Nfor BioCM pour mesurer les paramètres chimiques des structures. L'outil comprend également un scanner de réticules qui peut inspecter jusqu'à 28 réticules à la fois. Pour garantir une imagerie précise et fiable, l'actif comprend un algorithme de couture 3D en attente de brevet pour générer des images 3D très précises. Il utilise deux colonnes de faisceau d'électrons pour capturer les détails fins des structures, tandis que le logiciel d'imagerie avancé dispose d'analyse à grande vitesse et de correction d'image. Cela garantit que les images sont exactes et que les données peuvent être utilisées en toute confiance. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Reticle Nérabilité SEM 3D est l'outil idéal pour l'analyse des pannes électriques et la métrologie des plaquettes. Il fournit aux chercheurs des images 3D de haute qualité avec une précision sous-nanométrique qui peut être utilisée pour la reconnaissance des motifs, la caractérisation des appareils et la surveillance des processus. Le modèle est facile à utiliser et peut être intégré dans les processus de recherche et de développement existants. Il est équipé d'un dispositif de surveillance à distance qui permet aux utilisateurs de surveiller ses performances à partir de n'importe quel endroit. Cette fonctionnalité garantit que l'équipement fonctionne toujours aux performances maximales et est disponible en cas de besoin. Le système d'essai et de métrologie des plaquettes Reticle Nand SEM 3D est le système ultime pour la recherche et le développement de semi-conducteurs. Sa gamme de fonctionnalités avancées, ses performances robustes et sa rentabilité en font le choix idéal pour les chercheurs et les designers qui exigent la plus haute qualité et fiabilité de leur travail.