Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle SEM #9249417 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle SEM
ID: 9249417
CD Measurement system.
AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle SEM est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie spécialement conçu pour la fabrication de semi-conducteurs et la recherche. AMAT Reticle SEM est un microscope électronique à balayage qui permet de mesurer et d'analyser avec précision les niveaux critiques des détails et des conditions de surface de la plaquette. Ce SEM peut détecter et mesurer les caractéristiques physiques et les défauts avec une précision et une précision extrêmement élevées. Le SEM permet l'analyse statique et dynamique des surfaces, permettant la mesure et l'analyse des changements liés à l'environnement ambiant et à d'autres variables. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Reticle SEM permet une large gamme d'inspection, de caractérisation et d'analyse des défauts de surface des plaquettes. Il peut saisir, enregistrer et traiter des données relatives aux morphologies de surface, aux dimensions critiques, aux caractéristiques électriques, à la composition chimique, etc. Ce SEM est conçu spécifiquement pour les wafer et autres applications de métrologie des semi-conducteurs. Le système comprend une puissante unité d'optique électronique optimisée qui fournit une imagerie de contraste élevé supérieure avec des caractéristiques de résolution améliorées. Il dispose également d'une machine de positionnement automatisée XYZ qui permet l'acquisition et l'analyse automatisées des données des plaquettes dans un court laps de temps. Le SEM utilise une architecture ouverte qui offre la flexibilité pour les personnalisations d'outils pour répondre à de multiples technologies et exigences de processus. Cette conception flexible et modulaire offre aux utilisateurs un environnement idéal pour configurer leurs propres configurations de test et plans d'acquisition de données. Reticle SEM est également adaptable aux besoins de l'utilisateur final, avec des instruments avancés et des capacités d'analyse qui peuvent être facilement personnalisés pour de plus grandes mesures, une meilleure imagerie, et une précision accrue. En outre, AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle SEM est conçu pour l'automatisation, permettant aux utilisateurs de créer des plans d'analyse prédéterminés qui peuvent être déclenchés pour exécuter des tests sans surveillance. En un coup d'œil, AMAT Reticle SEM est un outil puissant et polyvalent pour la métrologie des plaquettes semi-conductrices et des réticules. Il fournit une imagerie haute résolution supérieure et une mesure de haute précision avec un excellent débit et répétabilité pour un large éventail d'applications. Cette machine sophistiquée permet aux opérateurs de saisir, enregistrer et traiter les données facilement. Son architecture flexible et son atout de positionnement XYZ intégré offrent également aux opérateurs un niveau de personnalisation et d'automatisation qui le rend idéal pour de nombreuses applications.
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