Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668731 à vendre en France

MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS L'équipement VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil très avancé pour les essais de wafer et la métrologie. Il est utilisé par les laboratoires de recherche, les fabricants de semi-conducteurs et les ingénieurs de procédés pour mesurer et caractériser avec précision les caractéristiques tridimensionnelles des plaquettes de semi-conducteurs, des puces à mémoire solide et d'autres dispositifs semi-conducteurs. Le système AMAT VeraSEM 3D est composé d'un certain nombre de composants, dont le modèle cryo-refroidi MetaSEM G4 haute résolution SEM (Scanning Electron Microscope), la station de pulvérisation magnétron MetaSEM et le microscope optique haute résolution. Le SEM utilise la technologie du faisceau d'électrons pour identifier les caractéristiques exactes de la plaquette ou du dispositif inspecté. La chambre à échantillon cryo-refroidie MetaSEM G4 haute résolution permet un contrôle précis de la température de l'échantillon et des conditions de fonctionnement. La station de pulvérisation magnétron est utilisée pour déposer des films minces sur les plaquettes avant l'imagerie. Le microscope optique haute résolution permet à l'utilisateur d'inspecter et de mesurer avec précision la topographie et la rugosité de surface des échantillons. En plus de ces composants, MATÉRIEL APPLIQUÉ VeraSEM 3D comprend également un certain nombre de logiciels et de systèmes matériels avancés, tels que l'unité d'analyse stéréologique, la machine automatisée de préparation d'échantillons, et le logiciel de reconnaissance de motifs. L'outil d'analyse stéréologique est utilisé pour identifier automatiquement les caractéristiques de la plaquette, telles que la taille, la forme et l'orientation des caractéristiques de la plaquette. L'actif de préparation automatisée des échantillons permet à l'utilisateur de préparer rapidement et avec précision les échantillons pour l'imagerie. Le logiciel de reconnaissance de motifs est utilisé pour identifier des motifs, tels que la fixation de diodes ou de transistors sur les plaquettes. VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Model est une ressource inestimable pour les laboratoires de recherche, les fabricants de semi-conducteurs et les ingénieurs de procédés. Il fournit des mesures et des caractéristiques rapides, précises et fiables des plaquettes et autres dispositifs semi-conducteurs. Grâce à ses composants et logiciels avancés, AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D est en mesure d'identifier les caractéristiques exactes de la plaquette et de préparer rapidement des échantillons pour l'imagerie. Cet équipement est un outil essentiel pour la fabrication et le contrôle des dispositifs semi-conducteurs.