Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668733 à vendre en France

MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS VeraSEM 3D est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes motorisé conçu pour la technologie et la fabrication de semi-conducteurs. Ses capacités comprennent la métrologie avancée, les cartes de plaquettes, le post-traitement de la topographie 3D, la qualification des plaquettes maillées, les essais de masques et les surfaces inspectées à angle droit. L'outil est équipé de plusieurs composants dont une source de faisceau d'électrons multicanaux, une console de commande et une interface utilisateur. La source de faisceau d'électrons délivre des impulsions contrôlées d'électrons à la surface de l'échantillon, permettant une imagerie haute résolution et la mesure de topographie. En utilisant une combinaison d'accélération, de décélération et de déflexion du faisceau à travers la colonne électronique, AMAT VeraSEM 3D peut mesurer et cartographier le contour de petites caractéristiques, des caractéristiques non planaires et des textures de surface finement détaillées. Lors de l'inspection, le faisceau d'électrons est balayé et les électrons secondaires générés dans l'interaction sont utilisés pour recueillir une image ou des données pour la carte 3D de surface. L'armoire de contrôle offre une capacité de traitement d'images et de données embarquées pour les données collectées à partir de MATÉRIAUX APPLIQUÉS VeraSEM 3D. Grâce à ce système, divers paramètres et fonctions sont contrôlés et contrôlés. Il peut être utilisé pour ajuster la densité de courant de la colonne électronique, la longueur des phases d'accélération et de décélération des électrons balayés, et d'autres paramètres. L'interface utilisateur de VeraSEM 3D est conçue pour faciliter le fonctionnement et la gestion des données. Il peut être utilisé pour surveiller l'unité et pour visualiser les images collectées et les cartes de surface 3D. De plus, l'interface utilisateur est utilisée pour définir les zones de balayage, les modes de visualisation et les paramètres de mesure de topographie 3D. Il fournit également une fonction d'enregistrement pour stocker les données de test, ainsi que permet de personnaliser l'interface utilisateur. Avec ses capacités de métrologie avancées, AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D est un candidat idéal pour les applications émergentes des essais de semi-conducteurs. En utilisant une combinaison d'imagerie haute résolution et de traitement de données, il peut mesurer et cartographier avec précision les caractéristiques petites et non planaires sur une surface de plaquette. Son interface conviviale facilite le fonctionnement de la machine et permet une personnalisation en fonction des exigences d'une application particulière.