Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293831591 à vendre en France

MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de haute précision à grande vitesse qui utilise des algorithmes avancés pour mesurer la morphologie des substrats sur une variété de plaquettes semi-conductrices. L'unité détecte rapidement les dangers et les irrégularités à la surface de la plaquette, y compris les particules, les copeaux, les rayures et les dépôts non uniformes. La machine comprend une série d'outils d'analyse automatisés et de méthodes de traitement d'image pour caractériser et analyser rapidement la morphologie du substrat. Le matériel et l'optique de l'outil VeraSEM sont conçus pour acquérir rapidement des images SEM haute résolution et des données de test non destructives de structures de plaquettes. Les fonctions d'analyse automatisée de l'actif supportent l'analyse automatisée des défauts, la mesure de la rugosité de surface et la métrologie à plusieurs niveaux. Il comprend également un modèle de mesure 3D basé sur laser pour générer des images de cartes 3D qui peuvent être exportées pour une analyse plus approfondie. Les algorithmes de détection et d'analyse des défauts basés sur les algorithmes de l'équipement sont conçus pour améliorer la précision et la rapidité de la détection des défauts et de la contamination. Les algorithmes utilisent la reconnaissance de motifs, la segmentation et la reconnaissance de forme pour caractériser avec précision le défaut. Le système peut être programmé pour effectuer diverses analyses, allant de l'identification de la taille et de l'emplacement des particules, à la caractérisation des puces et des rayures, à la mesure des dépôts non uniformes. Outre la détection et l'analyse des défauts, AMAT VeraSEM 3D est également capable de mesurer les caractéristiques morphologiques du substrat de la plaquette. Il comporte un certain nombre de fonctions pour permettre la mesure et l'analyse des propriétés de surface, d'interface et d'encombrement du substrat. Il peut mesurer la topographie de surface, la rugosité de surface, la rugosité des caractéristiques individuelles, la surface, les variations d'épaisseur et d'autres caractéristiques morphologiques à plusieurs niveaux de détail. MATÉRIAUX APPLIQUÉS VeraSEM 3D est un excellent outil pour caractériser rapidement et avec précision la morphologie de surface des plaquettes de substrat. Il peut rapidement détecter divers dangers et irrégularités sur la surface de la plaquette, et avec sa combinaison d'algorithmes automatisés de traitement d'image et de capacités de cartographie 3D, fournir une analyse détaillée et la visualisation de la structure du substrat.