Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #9293429 à vendre en France
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ID: 9293429
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM), 12"
SMIF Type
Reticle size, 6"
Wafer of type: Notch at 6 o'clock
Stage: (3) Load ports
2002 vintage.
MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS VeraSEM 3D est une nouvelle génération de solutions d'essais de plaquettes et de métrologie d'AMAT. Il est doté d'une architecture d'équipement de pointe et d'une technologie de capteur de pointe, ce qui en fait l'une des solutions d'essai et de métrologie de plaquettes les plus puissantes disponibles aujourd'hui. AMAT VeraSEM 3D utilise une plate-forme multi-capteurs qui intègre trois capteurs composants - un laser de cartographie, un analyseur de surface et une caméra d'imagerie - avec une architecture système avancée. Le laser de cartographie utilise un faisceau lumineux rapide et non destructif pour cartographier précisément la surface de la plaquette et fournir des données pour l'imagerie et l'analyse de surface. L'analyseur de surface fournit des données précises de caractérisation de surface, y compris la topologie de surface, le profil et les caractéristiques de rugosité. Enfin, la caméra d'imagerie capture des images de surface détaillées de la plaquette pour fournir des données précieuses sur les défauts microstructuraux et d'autres variations. MATÉRIAUX APPLIQUÉS VeraSEM 3D exploite des MATÉRIAUX APPLIQUÉS Des décennies d'expérience dans les essais de plaquettes et la métrologie pour offrir aux clients un niveau inégalé de précision et de répétabilité. Il a la capacité d'atteindre une résolution de surface en 3D supérieure à 5 nm, avec une taille minimale de 40 nm. Ses algorithmes avancés sont capables de détecter et de mesurer des caractéristiques avec une variation de taille aussi faible que 0,1 micron. L'unité est également équipée d'algorithmes propriétaires d'analyse d'image pour la détection et la classification des défauts, offrant aux opérateurs un moyen rapide et fiable de détecter et de contrôler les variations de processus. VeraSEM 3D est conçu pour répondre aux exigences exigeantes des industries semi-conductrices et connexes. Ses capacités d'acquisition et de traitement de données à grande vitesse peuvent aider les opérateurs à identifier rapidement et avec précision les défauts et à commencer la correction de processus si nécessaire. La machine fournit également une interface utilisateur graphique conviviale dédiée qui simplifie l'inspection des plaquettes et les tâches de métrologie et permet une personnalisation complète. Dans l'ensemble, MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS VeraSEM 3D est une solution puissante et polyvalente de test de plaquettes et de métrologie qui combine une technologie de détection de pointe, une architecture d'outils et des algorithmes propriétaires pour offrir une précision et une répétabilité supérieures. Il permet aux opérateurs d'analyser facilement les défauts microstructuraux et autres variations des plaquettes, ce qui leur permet d'optimiser rapidement le contrôle des processus et l'amélioration des rendements.
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