Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM #9200200 à vendre en France

MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS VeraSEM est un système de pointe utilisé pour les essais de plaquettes et la métrologie. Il combine un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) avec une large gamme de mesures automatisées et de capacités d'imagerie. Cela permet aux utilisateurs de mesurer rapidement et avec précision les caractéristiques des plaquettes et des matrices, telles que les dimensions critiques, la topographie des dispositifs et une large gamme de propriétés des appareils électriques. AMAT VeraSEM permet également aux utilisateurs de caractériser rapidement les profils de dopage et d'effectuer un étalonnage des performances des appareils entre différents échantillons. Avec sa conception robuste et ses capacités avancées, APPLIED MATERIALS VeraSEM est idéal pour une utilisation dans le développement de dispositifs semi-conducteurs et la caractérisation des processus. Il fournit une caractérisation détaillée des composants microélectroniques et permet de mesurer les caractéristiques électriques avec une résolution et une précision nanométriques. Cela en fait un outil précieux dans l'industrie des semi-conducteurs pour l'analyse des défaillances des dispositifs et la surveillance des rendements. Les capacités d'imagerie avancées de VeraSEM disposent de l'imagerie à haute résolution SEM et du faisceau électronique induit courant (EBIC) pour permettre la comparaison die-to-die. Cela aide à repérer les défauts du dispositif et des transistors individuels pour une analyse plus approfondie. VerSEM offre également des capacités d'imagerie spectroscopique qui permettent aux utilisateurs d'effectuer des analyses chimiques jusqu'à l'échelle du nanomètre. De plus, ses capacités de mesure automatisée sont sans égal dans l'industrie. MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS VeraSEM est capable de mesurer les plus petites caractéristiques avec sa résolution de 10 nanomètres, ce qui en fait l'une des meilleures solutions de sondes de plaquettes disponibles. Le système offre également une série avancée d'outils logiciels, y compris la reconnaissance automatisée des motifs et la classification des défauts, qui améliorent les flux de travail de nombreux ingénieurs et chercheurs. Dans l'ensemble, AMAT VeraSEM est un système d'essai et de métrologie de plaquettes très polyvalent et sophistiqué qui offre des résultats détaillés et précis. Ses puissantes capacités d'imagerie et de mesure automatisée en font un outil précieux pour le développement de dispositifs semi-conducteurs et la caractérisation des processus. Il convient à un large éventail d'applications telles que l'analyse des défaillances, le benchmarking, la mesure des dimensions critiques et des propriétés électriques et plus encore.