Occasion ASM WS 896 #9160935 à vendre en France
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ID: 9160935
Style Vintage: 2005
Wafer scanners
Currently installed in clean room
2005 vintage.
L'ASM WS 896 est un équipement sophistiqué d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs. Il est conçu pour inspecter et analyser les propriétés électriques, optiques et mécaniques des plaquettes individuelles, ainsi que pour fournir des mesures de celles-ci. Le système est basé sur un interféromètre optique avancé, qui utilise un faisceau laser monochromatique pur pour révéler des détails de surface minutes. Il est capable de fournir des images 3D sans contact et à haute résolution des surfaces, ainsi que de mesurer avec précision leurs propriétés géométriques, notamment la rugosité, la pente, la texture, etc. L'unité comprend également une station de mesure de pont, qui utilise la technologie CCD, des sondes électriques et des logiciels pour analyser les propriétés électriques des plaquettes. Il est capable d'effectuer différents types de mesures, telles que tension de seuil, résistivité de contact, courant de fuite, tension de claquage... La machine comprend un outil d'acquisition de données et un logiciel d'analyse de données, qui peut être utilisé pour extraire, stocker et analyser des données pour d'autres recherches. Les données peuvent être utilisées dans divers domaines, tels que l'amélioration des procédés, l'analyse des défauts, la surveillance du rendement et le développement de produits semi-conducteurs. L'actif offre également d'autres fonctionnalités avancées, telles que l'affichage graphique avancé, la rétroaction en temps réel du processus de test, l'analyse d'informations statistiques, et les capacités de réseautage. L'utilisateur peut choisir parmi une grande variété de modules, tels que la capture d'image, la modélisation et la simulation, pour personnaliser le modèle en fonction de leurs besoins spécifiques. Dans l'ensemble, ASM WS896 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie offrant une précision et des caractéristiques inégalées à l'industrie des semi-conducteurs. Il est très polyvalent et peut être utilisé pour toute une gamme d'applications de test et de métrologie.
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