Occasion ASM WS 896 #9256699 à vendre en France

L'ASM WS 896 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie d'ASM International. C'est un outil complet avec une précision, une fiabilité et une flexibilité exceptionnelles pour mesurer une variété de paramètres de plaquettes, y compris l'épaisseur, l'arc, la topographie et les propriétés électriques. Le système ASM WS896 dispose d'une configuration en réseau et comprend deux sondes wafer, un ordinateur et un module Wafer Scanner (WSM). Les sondes de plaquettes sont utilisées pour mesurer les propriétés électriques et structurelles des plaquettes, telles que la conductivité, la résistivité et la constante diélectrique. Le module scanner peut être utilisé pour balayer toute la surface de la plaquette avec un microscope laser ou optique. L'unité offre une gamme d'options de test et peut être configurée pour répondre à des exigences spécifiques et des protocoles de mesure. La machine est conçue pour manipuler facilement tout type de plaquette, comme le silicium, l'arséniure de gallium, le saphir et d'autres matériaux. Il fournit également des résultats de mesure précis, fiables et répétables avec une faible incertitude de mesure totale. L'outil WS 896 comprend également un mode cycle automatisé et une suite logicielle intégrée qui permet un contrôle, une analyse et une gestion des données sophistiquées. Le mode cycle permet l'alignement automatisé des plaquettes, le balayage des plaquettes, la recherche mécanique et la collecte de données. La suite logicielle intégrée fournit une interface utilisateur intuitive, l'analyse en temps réel, et le tracé des tendances de données. En conclusion, WS896 est un outil puissant et fiable pour les essais de plaquettes et la métrologie. Il fournit des résultats d'essai précis et reproductibles avec une faible incertitude totale de mesure. L'actif est configurable et facile à utiliser, et permet des tests de plaquettes efficaces et la métrologie. La suite logicielle intuitive fournit des capacités de gestion de données, d'analyse et de tracé de tendances, ce qui en fait un outil précieux pour la fabrication et la production de semi-conducteurs modernes.