Occasion ASML YieldStar S100 #293621217 à vendre en France

ID: 293621217
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2010
Overlay measurement system (IMM, DBO) (2) Loadports Chamber.
ASML YieldStar S100 est un essai de gaufrette avancé et l'équipement de métrologie était destiné à découvrir des défauts et mesurer des dimensions critiques. Ce système de contrôle optique automatisé est capable de reconnaître des motifs et de manipuler de multiples types de substrats. Il est doté d'un étage moteur linéaire 3 axes de haute précision et d'une unité d'imagerie avancée et performante. L'ASML YIELD DSTAR S-100 est capable de détecter des défauts jusqu'à 50nm sur des plaquettes jusqu'à 200mm. Il a également la capacité de tester plusieurs types de substrat et de mesurer une variété de tailles de caractéristiques, y compris les largeurs de lignes et l'espacement, les profondeurs de tranchées, et les protubérances. La machine est équipée d'une variété de technologies avancées d'imagerie et de reconnaissance de motifs, telles que la spectroscopie, l'éclairage UV, la reconnaissance de contour, la corrélation d'image et l'analyse de particules. YieldStar S100 est hautement automatisé, en tenant compte du traitement par lots d'échantillons de gaufrette dans une course d'essai simple. Il dispose d'une grande variété de dispositifs de mesure optique, tels qu'une caméra longue distance stable et un mécanisme autofocus avec un outil intégré de reconnaissance de motifs. Cet actif est conçu pour détecter les défauts rapidement et précisément, conduisant à des taux de rendement et à une efficacité de production plus élevés. En termes d'analyse de données, YIELD DSTAR S-100 offre un certain nombre de fonctionnalités puissantes. Il est équipé d'une bibliothèque logicielle embarquée qui est capable d'analyser les images défectueuses et de détecter l'occurrence et la nature des défauts. Il dispose également d'une technologie avancée de reconnaissance des motifs qui peut identifier la cause profonde d'un défaut. Ce modèle puissant permet également d'identifier les tendances dans le développement des modèles et peut être utilisé pour améliorer le contrôle de la qualité et l'optimisation des processus. En général, ASML YieldStar S100 est un essai de gaufrette avancé et un équipement de métrologie qui est capable de découvrir des défauts et mesurer des dimensions critiques vite et exactement. Il est automatisé et fournit des outils d'analyse de données puissants, ce qui en fait un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs à la recherche de rendements plus élevés et d'une production plus efficace.
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