Occasion ASML YieldStar S100 #293625705 à vendre en France

ASML YieldStar S100 est un essai de gaufrette et un équipement de métrologie qui est utilisé pour la caractérisation et l'analyse d'appareils de semi-conducteur. Le système dispose d'interférométrie laser avancée pour la métrologie de précision ainsi que d'une efficacité à haut débit et de logiciels avancés pour le traitement et l'analyse des données. ASML YIELD DSTAR S-100 utilise la technologie d'alignement infrarouge (IR-LAL) pour réduire le temps d'essai et augmenter la précision jusqu'à ± 10nm. L'unité est capable de mesurer des structures 2D et 3D sur des structures de plaquettes. Il utilise également des techniques de caractérisation de surface telles que la topographie de surface, la mesure de la largeur des lignes, la cartographie de la rugosité et l'imagerie des défauts. YieldStar a une grande gamme dynamique, un rapport de signal au bruit excellent et une haute résolution qui y permet de découvrir de très petites variations dans les structures de gaufrette. Il a également la capacité d'effectuer des tests non destructifs sur des plaquettes et peut être utilisé pour détecter rapidement de très petits changements de processus qui peuvent affecter les performances de l'appareil. La machine est également capable de fournir des rapports détaillés et des résultats d'analyse, permettant une prise de décision rapide et efficace. En outre, les rapports peuvent être adaptés aux besoins spécifiques des applications. De plus, une vaste bibliothèque d'algorithmes de mesure permet de répondre à des exigences de précision détaillées sans programmation ou étalonnage poussé. En plus de ces traits, YieldStar offre aussi une interface d'utilisateur intuitive et des instructions sur l'écran pour point par point les opérations. Il dispose également d'excellentes capacités de télécommande et de transfert de données, permettant de stocker, d'analyser et d'exporter des données hors site. En général, YieldStar S100 est un essai de gaufrette extrêmement avancé et un outil de métrologie qui a des capacités de débit et d'exactitude excellentes, aussi bien qu'une interface d'utilisateur intuitive et une bibliothèque étendue d'algorithmes de mesure. C'est une solution idéale pour la caractérisation et l'analyse des dispositifs semi-conducteurs.