Occasion ASML YieldStar S100 #9170894 à vendre en France

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ID: 9170894
Taille de la plaquette: 12"
Overlay measurement system, 12".
ASML YieldStar S100 est un essai de gaufrette et un équipement de métrologie développé pour l'utilisation de fabricants de semi-conducteur. Il fournit une plate-forme entièrement intégrée pour faciliter les tests et l'analyse rapides de la performance des processus et des produits. L'ASML YIELD DSTAR S-100 dispose d'une plate-forme personnalisable, permettant une gamme de configurations en fonction des exigences du fabricant. Le système de test et de métrologie des plaquettes est doté de caractéristiques avancées pour mesurer avec précision un large éventail de caractéristiques physiques. Il s'agit de la température de la filière, des constantes diélectriques et de la capacité, des propriétés contraintes-contraintes, des caractéristiques électriques et des caractéristiques chimiques. L'unité offre également une variété de mécanismes pour le chargement, la préhension et l'orientation des plaquettes, afin d'assurer une précision et une intégrité supérieures. YieldStar S100 est conçu pour analyser une gaufrette aux points multiples partout dans une course de production donnée pour identifier et quantifier des domaines problématiques potentiels. Il a un degré élevé de flexibilité, permettant aux utilisateurs de le personnaliser en fonction de leurs besoins, et offre également une gamme complète d'outils d'analyse pour une inspection plus approfondie des anomalies potentielles. En plus de ses capacités analytiques avancées, le YIELD DSTAR S-100 est conçu pour minimiser les temps d'arrêt et les coûts d'entretien de la machine. Il offre une large gamme de fonctionnalités d'automatisation pour assurer un diagnostic efficace et la résolution des problèmes. Son outil avancé de calibration automatique permet d'optimiser la précision et la répétabilité au cours d'une série de production. Ses capacités de calcul avancées aident à réduire le temps d'analyse. ASML YieldStar S100 a été conçu pour fournir de hauts niveaux de sécurité, intégrité et efficacité dans l'application d'essai de gaufrette et de technologie de métrologie. Sa gamme complète de fonctions de sécurité comprend la protection des machines contre l'accès et l'activation non autorisés, la protection contre la corruption de données, la protection contre la surtension, les capacités de découverte d'urgence, et bien d'autres. Ces caractéristiques contribuent également à la sécurité en contribuant à réduire les risques associés à une manipulation incorrecte des matériaux et composants sensibles. L'ASML YIELD DSTAR S-100 est un atout idéal pour les fabricants de wafer et de métrologie, car il offre une plateforme personnalisable, des capacités d'analyse complètes, des caractéristiques de sécurité et un diagnostic efficace. Avec ses traits avancés et traits de sécurité, YieldStar S100 fournit aux fabricants une solution fiable et rentable.
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