Occasion ASML YieldStar S200 #293636291 à vendre en France

ASML YieldStar S200 est un équipement de Métrologie et d'Essai de Gaufrette conçu à l'industrie de semi-conducteur. Il est capable de traiter des plaquettes 300/200mm et est un système d'essai manuel utilisé pour la métrologie et l'inspection des défauts des plaquettes. L'unité intègre un algorithme à grande vitesse pour fournir une analyse complète de la surface de la plaquette. L'architecture matérielle de la machine lui permet de détecter et d'évaluer les défauts de niveau nanométrique des surfaces des plaquettes. L'outil utilise diverses techniques optiques telles que : interférométrie de mesure de réflexion, profilométrie, test de photostress et analyse de rétroaction numérique de quantité. Il dispose de tests fonctionnels automatisés avancés, de contrôle statistique des processus (RCP) et de fonctions diagnostiques qui offrent un test rapide et fiable. L'atout dispose d'une interface conviviale innovante, conçue avec un processeur d'images vidéo haute vitesse pour fournir des capacités avancées de traitement du signal. Il est équipé de commandes de modèles avancées, y compris un algorithme de contrôle de mouvement, le traitement du signal, le contrôle de la qualité et la gestion du fonctionnement. Le S200 dispose d'un équipement intégré d'alignement et d'étalonnage des plaquettes. Le système comprend également une tête de mesure propriétaire et une étape d'étalonnage pour fournir des résultats d'essai précis. La capacité de mesure optique sans contact de l'unité fournit des résultats précis et reproductibles pour une grande variété d'applications difficiles, y compris la cartographie et la métrologie des plaquettes, l'analyse de localisation des défauts et l'analyse des plaquettes. La fonction d'auto-réglage de la machine lui permet d'ajuster les paramètres de mesure aux données réelles pour un débit de processus optimal. En outre, l'outil dispose d'une suite logicielle pour diverses applications dans le contrôle de la qualité, la caractérisation des dispositifs, la détection et la caractérisation des défauts. ASML YIELD DSTAR S 200 est un atout fiable conçu pour répondre à la forte demande de l'industrie des semi-conducteurs. Il est conçu pour fournir des résultats de test précis et reproductibles et est capable de traiter une large gamme de plaquettes. Il est capable de produire les plaquettes de haute qualité nécessaires et attendues par le marché d'aujourd'hui.