Occasion ASML YieldStar S200 #9193316 à vendre en France

ASML YieldStar S200 est un essai de gaufrette et l'équipement de métrologie avait l'habitude de contrôler le processus du fait de se préparer et du fait de faire des frites de semi-conducteur. Ce système inspecte les plaquettes, identifie les défauts et peut mesurer certaines caractéristiques des caractéristiques des plaquettes. Il permet l'analyse et le suivi des plaquettes tout au long du processus de production pour s'assurer qu'elles répondent aux spécifications souhaitées. L'unité est conçue pour le contrôle total des processus, fournissant une métrologie complète au niveau des plaquettes pour améliorer le rendement et la qualité des produits. Il comprend un microscope électronique à balayage (SEM) et plusieurs autres composants pour des études quantitatives des défauts et des formes des plaquettes. Sa machine automatisée éprouvée offre la plus haute qualité d'image disponible pour des analyses quantitatives fiables des motifs de plaquettes. L'outil dispose d'un atout d'imagerie extrêmement sensible, permettant de détecter des défauts extrêmement petits, à toute profondeur de focalisation souhaitée. L'ASML YIELD DSTAR S 200 fournit des tests et une métrologie des plaquettes à haut débit. Il offre une analyse automatisée des petits défauts fonctionnels, permettant une détection et une révision efficaces des défauts. Le modèle permet également l'exportation facile de données pour permettre une analyse plus poussée. Cet équipement offre également de puissantes capacités d'analyse de signaux de données qui permettent des mesures de haute précision sur des motifs denses et complexes. Le système comprend une interface utilisateur graphique avancée (interface graphique) qui permet de visualiser rapidement les images au microscope. Les paramètres opérationnels de l'unité sont facilement réglés sur cette interface. En plus de cela, il fournit également des rapports détaillés qui affichent l'information, y compris la vitesse moyenne d'analyse, la précision des mesures et la cote des défauts. YieldStar S200 est compatible avec les deux gaufrettes de 200 et 300 mm, en le rendant idéal pour la production d'appareils avec de différentes grandeurs de trait. Il est conçu avec des composants robustes qui permettent la stabilité du processus même sur de longues séries de production. Cette machine utilise la technologie de contrôle dynamique du bruit pour réduire le niveau de bruit de l'imagerie SEM pendant la production. Cela réduit également le temps nécessaire au traitement des téraoctets de données. Dans l'ensemble, YIELD DSTAR S 200 est un outil leader d'essai de plaquettes et de métrologie. Sa capacité à analyser et à suivre les plaquettes au cours du processus de production garantit qu'elles répondent aux spécifications souhaitées. Il offre des tests et une métrologie des plaquettes à haut débit, des composants robustes et des capacités de détection des défauts supérieures. Cet atout est idéal pour la production d'appareils de différentes tailles et assure la stabilité du processus grâce à la technologie dynamique de contrôle du bruit.