Occasion BRUKER-AXS Dektak XT #9237895 à vendre en France

BRUKER-AXS Dektak XT est un équipement polyvalent d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision conçu pour mesurer à la fois la topographie et le profil d'une large gamme de surfaces, y compris les plaquettes semi-conductrices et les cartes de circuit. Ce système de test et de métrologie de plaquettes est équipé d'un module d'imagerie Confocal Raman à haute résolution et à faible bruit capable d'analyser une large gamme d'échantillons en termes de composition, d'orientation cristallographique et de distribution d'épaisseur. Le microscope dispose d'une unité de focalisation Z-axiale automatisée pour l'acquisition d'images topographiques d'échantillons avec une résolution allant jusqu'à 5nm. En outre, il supporte une gamme complète de dispositifs de positionnement d'échantillons, y compris des étages motorisés x-y-z et des étages rotatifs, offrant flexibilité et précision pour une détection précise des échantillons. BRUKER-AXS DEKTAKXT propose également une variété de technologies d'analyse de surface, telles que les mesures de profil et de pas, les mesures de rugosité de surface, la détermination des pics/creux, la réfraction de profil 3D et l'analyse monocouche. Il est équipé d'une large gamme de sondes, y compris une sonde nano mécanique, un profilomètre de surface, un profilomètre optique, une microscopie à force atomique (AFM) pour mesurer les caractéristiques des forces de surface, et un réflectomètre spectral. De plus, il supporte un microscope optique interférométrique intégré pour la caractérisation de surface sans contact, fournissant un grossissement d'échantillon jusqu'à 200 fois la taille réelle et la résolution de sous-microns. Dektak XT offre également une variété de fonctions de mesure telles que les mesures de taille des caractéristiques, les déterminations de dimensions critiques, les mesures de largeur de ligne, les mesures de ligne centrale et les mesures de granularité/finition de surface. En outre, cet outil de test de plaquettes et de métrologie est livré avec plusieurs logiciels tels que le logiciel AnalYS, qui vous permet de mesurer les surfaces d'échantillons 3D et 2D, un paquet de contrôle technique à distance, et une bibliothèque de filtres de points. Dans l'ensemble, DEKTAKXT est un outil de test et de métrologie avancé et fiable qui permet aux chercheurs et aux ingénieurs de mesurer avec précision la topographie et le profil d'une variété de surfaces. Ses technologies de pointe, associées à des dispositifs de positionnement d'échantillons flexibles et à des logiciels spécialisés, offrent le plus haut niveau de précision et de répétabilité pour tous les types d'analyse de surface.