Occasion BRUKER-AXS Dektak XT #9282889 à vendre en France

BRUKER-AXS Dektak XT est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes utilisé pour le contrôle automatisé de la qualité et le contrôle statistique des processus des plaquettes de silicium. BRUKER-AXS DEKTAKXT est un outil essentiel pour la fabrication efficace de plaquettes de haute précision dans l'industrie des semi-conducteurs. La technologie de pointe de Dektak XT offre des mesures rapides et précises des profils de coupe de revêtement de plaquettes, topographie et rugosité de surface. DEKTAKXT est un outil multifonctionnel de métrologie conçu pour obtenir des informations détaillées sur la surface des plaquettes. Le système automatisé utilise une unité de profilage à ultra haute précision, sans contact, sans balayage vertical et sans interférence pour mesurer la topographie, le profil de section et la rugosité de surface des plaquettes nues et revêtues. Les relevés topographiques sont effectués à l'aide d'un profilomètre optique de la technologie Contour avec une sensibilité extraordinaire, des interactions optionnelles et des enregistreurs de données d'échantillons. BRUKER-AXS Dektak XT est équipé de composants optoélectroniques avancés qui garantissent des résultats de la plus haute qualité avec une précision allant de 0.1nm à 10µm. BRUKER-AXS DEKTAKXT assure la qualité en acquérant et quantifiant les revêtements de plaquettes et les dépôts de matériaux à la surface et près des bords de la plaquette. Dektak XT met également en œuvre un processus d'essai non destructif (NDT) qui élimine le besoin de destruction d'échantillons - réduisant ainsi les coûts de production. DEKTAKXT offre également un haut degré d'automatisation. Il est équipé d'une machine de chargement/déchargement robotique et dispose d'options d'acquisition de données en temps réel, d'archivage de données et de tracé complet. Il est ainsi facile pour ses utilisateurs de stocker, d'accéder et de comparer des données sur des plaquettes préalablement testées pour une analyse rapide. BRUKER-AXS Dektak XT est la solution idéale pour les tests et la métrologie avancés des plaquettes. Il garantit un contrôle précis des plaquettes, une assurance qualité et un bon rapport coût-efficacité, ce qui en fait le choix idéal pour l'industrie des semi-conducteurs.