Occasion BRUKER Contour GT-X8 #9399868 à vendre en France

BRUKER Contour GT-X8 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour répondre aux exigences les plus exigeantes en matière de caractérisation des dispositifs semi-conducteurs. Il offre un ensemble complet d'outils permettant de caractériser un large éventail de matériaux, de structures de dispositifs et de géométries. Le système est équipé d'une grande surface de travail avec un étage pas à pas de 10nm très précis et reproductible ainsi que d'un profilomètre de surface optique sans contact et d'un capteur de hauteur pour les mesures de topographie 3D. Contour GT-X8 fournit une mesure rapide et de haute précision des dimensions critiques à l'échelle nanométrique (CD) sur les dispositifs semi-conducteurs. Le fonctionnement à haut débit assure une caractérisation efficace même des structures les plus complexes. BRUKER Contour GT-X8 utilise une gamme de technologies avancées d'imagerie et de mesure, y compris la scatterométrie, la microscopie optique interférentielle, la spectroscopie térahertz et la microscopie acoustique pour fournir une caractérisation complète des structures des appareils. Divers paramètres physiques et électriques peuvent être mesurés in situ, y compris la résistance des feuilles, la planéité de surface, l'épaisseur, la vitesse de dépôt, la rugosité de surface, le profil de nanostructure et la composition des matériaux. Contour GT-X8 peut être intégré avec d'autres outils, tels que la microscopie à force atomique, l'ellipsométrie et la nano-indentation, pour fournir des capacités de caractérisation supplémentaires. De plus, l'unité peut être connectée à un ordinateur haute performance pour l'analyse et la visualisation des données. La machine dispose également d'un logiciel convivial pour la configuration automatisée et la collecte de données. L'interface intuitive permet des paramètres précis et une gestion avancée des données. Les capacités d'analyse avancées de l'outil peuvent être utilisées pour examiner et comparer les données provenant de différentes analyses afin d'assurer l'exactitude et la répétabilité des données. Dans l'ensemble, BRUKER Contour GT-X8 offre une plate-forme entièrement intégrée pour une caractérisation fiable, précise et non destructive des nanostructures. Ses capacités avancées d'imagerie, de mesure et d'analyse des structures nanométriques en font un outil essentiel pour la recherche et le développement dans l'industrie des semi-conducteurs.