Occasion BRUKER NANO DektakXT #293653435 à vendre en France

BRUKER NANO DektakXT est un système de test et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour des performances optimales dans les opérations de fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de fournir des mesures précises et fiables pour une multitude d'applications, telles que le contrôle et l'analyse des procédés semi-conducteurs, le développement des procédés et l'analyse des défaillances. DektakXT intègre une caméra CCD embarquée et un processeur de signal numérique (DSP) pour des mesures optiques à haute résolution. Avec ces composants, BRUKER NANO DektakXT est capable de prendre des mesures précises et répétables d'un large éventail de caractéristiques sur une surface de plaquette. Il peut mesurer des lignes, des tranchées, des vias, des bosses et d'autres caractéristiques avec une précision sans erreur de 0,1µm (0,000004 "). Les résultats des mesures sont mesurés selon quatre modes : segmentation, plage, imagerie et sondes. De plus, les étages XY motorisés de DektakXT permettent un balayage entièrement automatisé et des mesures répétables. BRUKER NANO DektakXT est intégré au logiciel SmartScout reconnu par l'industrie. Le logiciel permet une conception de parcours facile et optimise les paramètres de processus pour un meilleur rendement et un meilleur rapport coût-efficacité. Il permet également de mieux comprendre la performance du processus grâce à une analyse statistique complète des données. Dans l'ensemble, DektakXT est un système de test et de métrologie exceptionnellement fiable. Son fonctionnement à faible bruit et ses mesures à haute résolution offrent une solution fiable aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs exigeante d'aujourd'hui. Le système est extrêmement efficace et idéal pour une production et des essais de haute précision et à faible coût. Avec la caméra CCD embarquée et le DSP, il offre une précision et une précision inégalées. De plus, le logiciel SmartScout permet d'optimiser les paramètres de processus et d'analyser en profondeur les données pour améliorer les performances.