BRUKER / SLOAN DEKTAK (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre

Les équipements d'essai et de métrologie des plaquettes proposés par BRUKER/SLOAN DEKTAK sont très appréciés dans l'industrie des semi-conducteurs. Ces systèmes fournissent des solutions complètes d'analyse et de mesure de la rugosité de surface et de l'épaisseur du film sur les plaquettes. Un avantage notable des unités BRUKER/SLOAN DEKTAK est leur grande précision et précision. Ces machines utilisent des technologies de pointe telles que la profilométrie du stylet et l'interférométrie de la lumière blanche pour capturer des mesures précises sur la surface de la plaquette. Ce niveau de précision garantit des données fiables pour le contrôle des processus et l'assurance de la qualité. BRUKER/SLOAN DEKTAK propose une gamme de modèles pour répondre à différents besoins. Par exemple, le NT 3300 est un système polyvalent qui permet de mesurer sans contact la hauteur, la rugosité et l'épaisseur du film avec une résolution sous-nanométrique. La série XT, en revanche, fournit une profilométrie avancée pour les films minces, les hauteurs de pas et d'autres mesures critiques. Le système IIA est conçu pour l'inspection rapide en ligne des plaquettes, fournissant une analyse en temps réel pour les environnements de production. Ces outils trouvent des applications dans diverses industries, y compris la fabrication de semi-conducteurs, la fabrication de MEMS et la recherche sur les matériaux. Ils offrent des mesures rapides et précises, aidant les entreprises à rationaliser leurs processus, à améliorer le rendement des produits et à assurer l'intégrité de leurs plaquettes. BRUKER/SLOAN DEKTAK est un outil fiable de contrôle de la qualité et d'optimisation des procédés dans l'industrie des semi-conducteurs.