BRUKER / VEECO / SLOAN (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre

Les équipements d'essai et de métrologie des plaquettes jouent un rôle crucial dans l'industrie des semi-conducteurs et les fabricants tels que BRUKER, VEECO et SLOAN proposent des solutions avancées dans ce domaine. Ces systèmes sont conçus pour mesurer et analyser avec précision les propriétés physiques et électriques des plaquettes pendant le processus de fabrication. BRUKER, par exemple, fournit une gamme complète d'unités d'essai et de métrologie de plaquettes qui offrent une imagerie haute résolution, des mesures d'épaisseur de précision et une analyse topographique. Leur modèle DEKTAK XT en est un exemple notable, avec un profilomètre stylé automatisé qui mesure l'épaisseur du film, la hauteur des marches et la rugosité de la surface. VEECO est un autre fabricant important qui propose des machines d'essai et de métrologie de plaquettes. Ils se spécialisent dans la technologie de microscopie à force atomique (AFM), permettant l'imagerie haute résolution, l'analyse de la rugosité de surface, et des mesures précises des caractéristiques microscellulaires sur les plaquettes. Les outils AFM de VEECO sont largement utilisés dans la recherche et le développement, le contrôle des processus et l'assurance qualité dans la fabrication de semi-conducteurs. SLOAN, en revanche, est connu pour ses atouts de métrologie optique innovants. Ces modèles utilisent des techniques d'interférométrie optique pour mesurer la topographie de surface de la plaquette, l'épaisseur du film et les dimensions critiques avec une précision au niveau du nanomètre. Les solutions de métrologie optique de la société sont utilisées dans l'industrie des semi-conducteurs pour le contrôle des procédés, l'amélioration des rendements et la caractérisation des appareils. Les analogues, les avantages et les exemples d'équipements d'essai et de métrologie de plaquettes offerts par BRUKER, VEECO et SLOAN démontrent leur engagement à fournir des solutions de haute performance pour les mesures critiques et l'analyse dans la fabrication de semi-conducteurs.