Occasion CAMECA Lexfab 300 #293639185 à vendre en France
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ID: 293639185
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2010
Shallow probe metrology system, 12"
2010 vintage.
CAMECA Lexfab 300 est un équipement multimodal d'essai et de métrologie haute performance. C'est un outil polyvalent qui est capable d'effectuer diverses mesures de la microscopie à force atomique (AFM) à la spectroscopie optique. Le système est une structure à double chambre, la chambre supérieure servant d'AFM pour l'imagerie, la spectroscopie de force et d'autres techniques de fonctionnement, tandis que la chambre inférieure sert de chambre de spectroscopie pour les mesures optiques. L'AFM lui-même est équipé d'un scanner en boucle fermée qui peut atteindre une résolution de 1 nanomètre et des vitesses de balayage allant jusqu'à 100Hz. La chambre de spectroscopie est équipée d'un spectromètre et de sources d'éclairage multiples, permettant des mesures telles que la réflectance, la transmittance et la fluorescence. L'unité dispose également d'une machine de manutention automatisée des plaquettes, permettant un transfert facile et rapide des plaquettes dans les deux chambres. CAMECA LEXFAB300 est capable d'effectuer une variété de mesures, ce qui en fait un outil flexible en recherche et développement. Il peut générer des images d'une surface dans diverses conditions, mesurer des propriétés matérielles telles que la raideur mécanique et l'adhérence, ainsi que réaliser une analyse optique des surfaces. Il peut être utilisé pour caractériser des matériaux tels que des semi-conducteurs, des métaux, des polymères et des sels. L'outil est également capable de collecter des données à partir de plusieurs plaquettes simultanément, ce qui en fait un outil utile pour l'assurance de la qualité et le contrôle des processus. Il peut être utilisé pour des applications telles que les mesures de recouvrement, les études de défauts, l'inspection de la planéité superficielle et la mesure de l'impact des paramètres du procédé. LEXFAB-300 est un outil essentiel pour la fabrication et la métrologie des dispositifs semi-conducteurs. Il est conçu pour maximiser le débit et la précision, ce qui en fait un choix optimal pour la recherche, le développement et le contrôle des processus.
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