Occasion CAMECA Lexfab 300 #9281490 à vendre en France

CAMECA Lexfab 300 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haute performance conçu pour des applications avancées de semi-conducteurs et de dispositifs haute performance. Ses principaux composants comprennent un système intégré de manutention des plaquettes, une unité avancée d'imagerie et de métrologie, et une suite d'outils d'analyse. De plus, il est capable d'effectuer toute une gamme d'activités telles que la sondes, l'imagerie haute résolution et l'analyse de données. La machine de manutention intégrée est capable de manipuler des plaquettes jusqu'à 300mm de diamètre et 0,8mm d'épaisseur. Il est équipé d'un bras robotique et d'une plate-forme qui supporte la manipulation de plusieurs plaquettes simultanément. De plus, il est équipé de capteurs avancés qui permettent un contrôle précis de l'orientation de la plaquette pour assurer un alignement précis lors de la mesure. L'outil d'imagerie et de métrologie se compose d'un microscope optique automatisé et d'une série de détecteurs capables de collecter des images à haute résolution de plaquettes à différentes échelles. En outre, il dispose de capacités d'imagerie spectroscopique avancées qui permettent une analyse détaillée des morphologies des plaquettes. De plus, un logiciel spécialisé permet une métrologie automatisée, permettant des mesures précises des différentes caractéristiques de la plaquette. Enfin, CAMECA LEXFAB300 dispose d'une vaste gamme d'outils d'analyse pour aider à l'interprétation des données collectées par les sous-systèmes d'imagerie et de métrologie. Il s'agit notamment de divers algorithmes de traitement d'images, d'outils d'analyse statistique, de capacités de rendu 3D et de fonctions de navigation d'images. Dans l'ensemble, LEXFAB-300 est un actif avancé d'essais de wafer et de métrologie qui est capable d'obtenir des résultats précis en temps opportun. Son modèle de manipulation intégré assure un alignement précis des plaquettes pendant les mesures tandis que son équipement d'imagerie et de métrologie peut capturer des images haute résolution à différentes échelles. Enfin, son ensemble d'outils d'analyse permet une interprétation détaillée des données collectées, offrant ainsi aux utilisateurs des informations précieuses.