Occasion CANDELA OSA 5100 #9206447 à vendre en France

CANDELA OSA 5100 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haute performance conçu pour permettre l'analyse et la caractérisation précises de plaquettes semi-conductrices pour des applications commerciales ou de recherche. Ce système est équipé d'une gamme de microscopes optiques sophistiqués et AFM (atomic force microscopy) qui peuvent faire des images haute résolution des caractéristiques microscopiques, détecter des changements subtils dans les matériaux, et même capturer les détails du niveau atomique de la surface du substrat. Un contrôleur puissant, composé d'une caméra haute résolution et de codeurs optiques, permet à l'appareil de contrôler avec précision la position, la rotation et la vitesse des échantillons, assurant ainsi précision et répétabilité. De plus, la machine est capable d'effectuer de nombreuses mesures et analyses automatisées dans une grande variété d'applications, y compris la conception et l'évaluation de circuits intégrés, les mesures de topographie de surface, l'analyse de charge de surface, les tests optiques, l'analyse de couches minces, l'analyse de rayons X, et plus encore. OSA 5100 est conçu avec une architecture ouverte, permettant une intégration rapide et facile avec divers composants et logiciels tiers. Cet outil est également compatible avec un certain nombre de sondes de microscope différentes, permettant une flexibilité encore plus grande dans les applications d'imagerie et de recherche. Il est équipé d'un microscope optique haute résolution, d'un microscope AFM et d'un oculaire pour une vision facile. L'actif peut être utilisé avec différentes plages de résolution et de longueur d'onde selon l'application, offrant un large éventail de possibilités d'investigation des échantillons. CANDELA OSA 5100 comprend un logiciel d'imagerie TI (Time Integrated) avancé, qui permet l'analyse et le contrôle en temps réel des tâches d'imagerie. Ce logiciel utilise à la fois des images haute résolution et des données AFM pour générer des cartes de surface détaillées et des propriétés topologiques. En outre, ce logiciel peut être utilisé pour la surveillance de la dérive et de l'hystérésis, ainsi que pour les mesures dimensionnelles et l'étalonnage optique. De plus, OSA 5100 offre une interface facile à utiliser pour contrôler les environnements multi-utilisateurs. Ce modèle est extrêmement efficace, mettant un équipement professionnel de test de plaquettes et de métrologie au bout des doigts de l'utilisateur. La combinaison de puissantes capacités d'imagerie, de logiciels sophistiqués et d'interfaces conviviales met CANDELA OSA 5100 à part des produits similaires sur le marché. Que ce soit pour des applications commerciales ou de recherche, OSA 5100 est le choix idéal pour la caractérisation de précision des plaquettes semi-conductrices.