Occasion CANDELA OSA 5100 #9212020 à vendre en France

ID: 9212020
Optical surface analyzer.
CANDELA OSA 5100 est un puissant outil d'essai de plaquettes et de métrologie de la renommée mondiale CANDELA Technologies. Il est conçu pour faciliter le test rapide et précis des dispositifs semi-conducteurs sur les plaquettes de 300mm et les plaquettes de 200mm standard. Le système intègre des techniques optiques et électriques pour fournir à la plaquette des mesures précises et des données de caractérisation. Il est capable d'effectuer à la fois des mesures mono-prises et multi-prises et offre des capacités de numérisation et d'imagerie extrêmement haute résolution. L'OSA 5100 est équipé d'une bibliothèque de systèmes optiques et d'ensembles d'outils pour assurer une collecte de données précise et en temps opportun sur toute la surface de la plaquette. Le système utilise un étage motorisé à trois axes pour une focalisation et un positionnement précis, permettant un alignement sous microns des plaquettes échantillons. CANDELA OSA 5100 dispose également d'une interface utilisateur intuitive capable de contrôler simultanément tous les tests nécessaires et les fonctions d'acquisition de données. Le logiciel est capable d'acquérir des données statistiques à partir des mesures de chaque échantillon et permet aux utilisateurs de personnaliser les métriques qui sont renvoyées et analysées. OSA 5100 est capable de tester une grande variété d'applications allant de la visualisation de la surface des plaquettes semi-conductrices à l'examen de composants passifs tels que les condensateurs et les inducteurs. Il peut également être utilisé pour détecter des courts-métrages électriques, des défauts cachés, et analyser divers paramètres de circuits intégrés tels que des états fonctionnels (on/off). Avec sa grande précision et fiabilité, CANDELA OSA 5100 est le choix privilégié pour les essais de circuits intégrés et de plaquettes et les besoins de métrologie. Le système dispose d'une multitude de caractéristiques qui le rendent idéal pour les processus de conception et de fabrication, facilitant l'analyse rapide et précise des dispositifs semi-conducteurs et des surfaces des plaquettes. Sa facilité d'utilisation, sa flexibilité et ses performances élevées en font un outil essentiel pour l'industrie moderne des semi-conducteurs.
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