Occasion CANON IUC-M3S #9291909 à vendre en France

CANON IUC-M3S est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir aux utilisateurs des mesures de plaquettes précises et des évaluations de surface. Le système est idéal pour l'industrie des semi-conducteurs en raison de sa capacité à analyser les plaquettes des deux côtés et la flexibilité de l'unité en tant que solution intégrée. La machine d'essai et de métrologie CANON IUC M 3 S dispose d'un outil matériel robuste, composé d'un microscope à ultrasons, d'un chariot à air et d'un actif d'acquisition de données. Le microscope à ultrasons spécial, avec sa caméra CCD, fournit des informations importantes pour la mesure et l'analyse des surfaces des plaquettes. Le chariot porte-air permet un mouvement précis et lisse des plaquettes sous le microscope ainsi que le transport des plaquettes vers et depuis le modèle. L'équipement d'acquisition de données est chargé de recueillir et de traiter les mesures recueillies au microscope à ultrasons, telles que la profondeur, la largeur, la hauteur et le pas des surfaces des plaquettes. En outre, IUC-M3S dispose d'un système logiciel complet qui fournit aux utilisateurs des informations détaillées sur les caractéristiques des plaquettes. Les fonctions importantes telles que l'alignement des plaquettes, la détection des défauts, la classification des surfaces et la compensation des erreurs sont toutes rendues simples grâce au logiciel. En outre, le logiciel est conçu pour maximiser le débit de données et prendre en charge plusieurs formats de données. L'unité de test et de métrologie IUC M 3 S est conçue avec un accent sur la précision, la précision et la fiabilité. La machine dispose d'une caméra haute résolution qui est capable de surveiller les surfaces des plaquettes à 2,5nm. CANON IUC-M3S est également un outil flexible, avec des données d'analyse disponibles dans les formats ASCII et CSV pour une compatibilité facile avec de nombreuses suites logicielles différentes. Enfin, le logiciel de CANON IUC M 3 S est capable de compenser les erreurs de fabrication avec ses algorithmes avancés qui minimisent l'impact de telles erreurs. En résumé, IUC-M3S est un outil complet de test et de métrologie de wafer qui est conçu avec précision, précision, fiabilité et flexibilité à l'esprit. Le modèle matériel est composé d'un microscope à ultrasons robuste, d'un chariot porteur d'air et d'un équipement d'acquisition de données, tandis que le système logiciel qui l'accompagne possède de nombreuses fonctionnalités qui maximisent le débit de données et fournissent des informations sur les caractéristiques des plaquettes. L'unité est capable de mesurer et d'analyser des surfaces de plaquettes à moins de 2,5 nm, et est conçue pour minimiser l'impact des erreurs de fabrication grâce à ses algorithmes de compensation des erreurs.