Occasion CDE 73B #293619550 à vendre en France

CDE 73B est un équipement d'essai de wafer et de métrologie conçu par CDE Corporation, un fournisseur leader de solutions de mesure pour les industries semi-conductrices et connexes. Le système offre des mesures de haute précision et répétables sur des plaquettes individuelles, permettant le contrôle des processus et l'analyse qualitative des défauts. Il est équipé de technologies de pointe telles que la reconnaissance et l'inspection des motifs 1D et 2D, la couture automatisée des images, la détection des défauts optiques, et les capacités avancées auto-focus. 73B supporte une variété de matériaux de plaquettes, y compris le silicium, le verre et les matériaux organiques. Il peut mesurer à la fois les paramètres de non-imagerie et d'imagerie tels que les diamètres de la matrice, le pas de la matrice, les emplacements des plaquettes mortes et la précision du recouvrement. Grâce à sa fonction avancée de couture d'image, il peut mesurer la surface entière de la plaquette en une seule passe et détecter des défauts mineurs sans avoir besoin de mesures multiples. L'unité est également capable d'effectuer des mesures complexes et multidimensionnelles telles que colline/vallée, chaîne et forme de bille de soudure. Sa capacité à mesurer plusieurs modèles en 3D en fait un outil idéal pour le contrôle des processus et l'analyse de la qualité des produits. En outre, la machine s'intègre aux outils de métrologie existants pour la collecte et l'analyse automatisées des données. Il est compatible avec une large gamme de lentilles d'imagerie, permettant aux utilisateurs de choisir le meilleur outil pour leur application. Il comprend également une bibliothèque de reconnaissance de motifs embarquée puissante qui prend en charge un large éventail de fonctionnalités et de paramètres, y compris l'imagerie 2D, la superposition et l'inspection multi-die. CDE 73B est disponible en deux plates-formes configurables, dont le prix varie de 150 000 $ à 350 000 $ selon le nombre de points de mesure, d'optiques et d'accessoires. C'est une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs, les laboratoires d'essai et les installations de production à la recherche d'une solution de métrologie fiable et précise.