Occasion CDE RESMAP 168 #9188716 à vendre en France

CDE RESMAP 168 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes de CDE Technologies, conçu pour faciliter les essais et la métrologie rapides et précis de plaquettes. Le système utilise une combinaison unique de technologies actives et passives de contrôle du mouvement de précision, ainsi qu'une suite de technologies de balayage et d'imagerie. L'unité a une résolution allant jusqu'à 0,25 micromètre, et est capable de mesurer avec précision une gamme complète de paramètres, y compris l'irrégularité de surface, le profil et d'autres caractéristiques topographiques, et même des caractéristiques critiques telles que les mesures de superposition et de dimension critique (CD). La fonction brevetée RESMAP apportera la technologie de mesure de pointe et permettra la numérisation et les capacités de mesure de profil. La fonction RESMAP permet de mesurer très précisément la forme de la plaquette jusqu'à une largeur de 0,0001 microns (1 femtomètre). Cette technologie exclusive permet des mesures plus précises et précises par rapport aux méthodes traditionnelles sur le terrain. La machine comprend également un traitement d'image avancé avec des sélecteurs de couleur avancés, et la mesure et la comparaison automatisée du potentiel AC/DC. Cela signifie que RESMAP 168 peut rapidement déterminer si une plaquette est exempte de toute contamination potentielle, ce qui la rend idéale et fiable pour mesurer et contrôler la pureté. Enfin, le CDE RESMAP 168 dispose d'une automatisation avancée et personnalisable et d'une automatisation sans erreur, afin de faciliter une détection plus rapide et plus précise et de minimiser les faux positifs. Cela signifie que l'outil peut détecter avec précision les plaquettes qui ont été retirées du plancher de production, ou qui ont subi un défaut de production, et se déplacer rapidement sur d'autres plaquettes pour mesure. En bref, RESMAP 168 est un outil de test et de métrologie de wafer avancé, qui permet des mesures rapides et précises de wafer, y compris l'irrégularité de surface, le profil, la superposition, les mesures CD, et d'autres caractéristiques et paramètres critiques. Avec une large gamme de fonctionnalités d'automatisation, une capacité de traitement d'image puissante et des mesures fiables jusqu'au niveau du micromètre, le CDE RESMAP 168 est une solution hautement fiable et automatisée pour tout travail de test de plaquettes ou de métrologie.