Occasion CDE RESMAP 178 #293760286 à vendre en France

Le CDE RESMAP 178 est un équipement d'essai et de métrologie en plaquettes spécialement conçu pour la recherche avancée sur les dispositifs semi-conducteurs. Il combine un système de mesure optique avancé de plaquettes avec une installation dédiée de test de plaquettes de silicium. L'unité permet une excellente résolution dans les plans latéral et vertical, à des résolutions latérales jusqu'à 1 μ m. La machine est équipée d'une caméra CCD qui peut effectuer des mesures simultanées des surfaces supérieure et inférieure d'une plaquette avec une seule image, permettant une comparaison instantanée des structures de surface 2D dans un large éventail d'applications. L'outil est très adaptable, et peut être utilisé pour des mesures de test sur différents échantillons, tels que des substrats fabriqués, des substrats avec différents matériaux, et plusieurs types de substrats avec plusieurs tailles. L'actif peut mesurer un large éventail de paramètres, y compris l'épaisseur nominale du film, la définition du motif de dépôt, la morphologie de surface, l'uniformité, la coercition, la résistance, l'accordabilité, la capacité et la fatigue. Il intègre également des algorithmes intégrés tels que la surveillance, la moyenne et le suivi, qui facilitent l'analyse du profil de surface des plaquettes. Le modèle est également équipé d'un équipement avancé de protection contre les décharges électrostatiques (ESD), offrant une protection supérieure contre les décharges de tension qui peuvent survenir lors d'analyses profondes, d'essais et de mesures. En outre, le système de protection de l'EDD comprend des canaux de sortie opto-isolés et un isolateur de décharge (DSI) en régime permanent pour la protection du personnel pendant l'expérimentation. Pour une précision accrue, l'unité est équipée de cinq capteurs laser réglables, capables de mesurer avec précision les surfaces supérieure et inférieure d'une plaquette. Il utilise un interféromètre laser de haute précision qui lui permet de prendre des mesures de haute définition et de haute précision sur toute la surface d'une plaquette. En outre, la machine est facilement intégrée avec les configurations de test existantes des utilisateurs et d'autres dispositifs, offrant flexibilité et configuration facile. Dans l'ensemble, CDE RESMAP178 wafer testing and metrology tool est un outil puissant et fiable pour la recherche avancée de dispositifs semi-conducteurs. Il offre des mesures de haute précision sur un large éventail de types d'échantillons, et peut être facilement intégré aux configurations de test existantes, ce qui en fait un outil hautement adaptable et personnalisable.