Occasion CDE RESMAP 178 #293809836 à vendre en France

Le CDE RESMAP 178 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de haute performance. Il a été conçu pour des applications nécessitant des mesures extrêmement rapides de dimensions critiques très précises et des paramètres liés à la topographie sur diverses structures planes et de contour avec plusieurs couches. Le système utilise la technologie de profilage et de réflectance diffuse pour fournir des résultats de métrologie très fiables. L'unité CDE RESMAP178 dispose d'une plate-forme optique exclusive avec une résolution et une précision améliorées. Il utilise une machine de réduction 4x qui assure des mesures extrêmement précises avec une excellente répétabilité. L'outil est équipé d'un puissant atout d'alignement automatisé (AAS) qui détermine de façon fiable l'emplacement et l'orientation de l'échantillon, permettant aux plaquettes les plus complexes d'être testées encore plus rapidement. En outre, le modèle est équipé d'une bibliothèque d'échantillons de référence pour faciliter la validation et la mesure de différents types de matériaux et de structures. L'équipement peut être calibré pour différents types de mesures, telles que x, y, l'axe z, l'intensité laser réfléchie et les dimensions critiques (CD). Le système peut également être personnalisé avec une unité de mesure WIPMS (Wafer-In-Place Unit), qui permet de mesurer simultanément des plaquettes complexes. La configuration optique avancée de la machine RESMAP 178 est parfaitement capable de mesurer avec précision les caractéristiques nano qui sont mesurées à l'aide de systèmes de mise au point et de correction de vitesse de haute qualité. De plus, l'outil peut mesurer les rapports d'aspect critique et les tolérances de caractéristiques ultra-précises comme les tranchées, les marches et les cavités. L'actif dispose également d'une interface utilisateur avancée avec une interface utilisateur graphique (interface graphique) pour une mise en œuvre facile des spécifications de mesure personnalisées. De plus, il est également capable de commander plusieurs systèmes simultanément, ce qui permet un mode de test des plaquettes plus productif. Bref, l'essai de gaufrette de RESMAP178 et le modèle de métrologie sont une solution complète et flexible pour l'essai rapide, fiable et exact de types différents de matériel et de structures. La plate-forme optique avancée de l'équipement, le système d'alignement automatisé, la bibliothèque d'échantillons de référence et l'interface utilisateur graphique en font un choix idéal pour tous vos besoins de test de plaquettes.