Occasion CDE RESMAP 178 #9185823 à vendre en France

CDE RESMAP 178 est un équipement de test et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour le traitement avancé des semi-conducteurs. Il est doté d'une architecture innovante à double probue qui permet de tester et d'inspecter simultanément les jonctions avant et arrière des semi-conducteurs, chaque probue ayant son propre système de positionnement pour un alignement précis. Le CDE RESMAP178 contient une capacité d'inspection multi-axes hautement sensible capable de détecter des défauts aussi petits que cent millionièmes de millimètre. L'unité est équipée d'un capteur de force breveté du faisceau de flambage, lui permettant de détecter des particules fines ou d'autres contaminants sur la plaquette. Il est équipé d'une seule caméra pour optimiser l'acquisition d'images et l'utilisation de moteurs rotatifs brevetés et d'servomoteurs en boucle fermée assure un alignement précis des pointes de la sonde avec les caractéristiques de l'échantillon. RESMAP 178 offre une grande variété de modes de test offrant des réponses dynamiques et à large bande, des capacités d'excitation multifréquence avec des taux de test rapides. L'unité dispose également d'un puissant algorithme de détection de bord et de capacité de traitement d'image, ce qui lui permet de mesurer avec précision le bord des fils, des espaceurs et d'autres caractéristiques. En outre, il comprend un algorithme propriétaire de calibration de mesure de champ qui permet un étalonnage rapide et précis. La machine est capable de produire des résultats plus rapidement que d'autres systèmes de test et d'inspection équipés de la même manière, ce qui permet des flux de travail de test plus efficaces. RESMAP178 dispose d'une gamme d'options de contrôle, y compris une interface utilisateur graphique intuitive pour un accès facile à tous les paramètres de test, et la capacité à intégrer dans des environnements de test automatisés. Il offre également un large éventail de fonctions d'acquisition, d'analyse et de communication de données, permettant aux utilisateurs de maximiser leurs efforts d'amélioration des processus. L'unité est conçue pour être utilisée dans des environnements difficiles, avec une enceinte étanche aux intempéries et un blindage RF/vibrations. Dans l'ensemble, le CDE RESMAP 178 est un outil de test et de métrologie avancé et très sensible qui convient parfaitement à une utilisation dans le traitement avancé des semi-conducteurs. Son architecture à double sonde et ses capacités uniques en font l'outil idéal pour mesurer et vérifier efficacement les performances des plaquettes de la manière la plus efficace et la plus précise.