Occasion CDE RESMAP 178 #9257593 à vendre en France

Le CDE RESMAP 178 est un équipement compact, semi-automatisé d'essai de plaquettes et de métrologie. Conçu pour garantir des résultats de mesure très précis et reproductibles, le CDE RESMAP178 est un outil essentiel pour les lignes de production dans l'industrie des semi-conducteurs. Grâce à son système de vision avancée, RESMAP 178 effectue un alignement manuel et automatisé des plaquettes, permettant des tests précis et rapides. Il offre également l'acquisition de données précises pour tester des paramètres tels que les niveaux de fuite, la résistance des feuilles, la résistance de contact et la chute IR. L'unité peut également être utilisée pour la caractérisation automatisée et pour le test d'échantillons individuels ou pluridimensionnels. RESMAP178 est conçu pour fonctionner dans un environnement contrôlé et est équipé d'une chambre réflecteur climatique qui stabilise la température et l'humidité lors des essais. Cette fonctionnalité permet de maintenir la plus grande précision de mesure. Le CDE RESMAP 178 offre également un ensemble complet de fonctions de test, y compris des tests de circuit intégré (IC), des essais de dispositifs, des essais de systèmes micro-électromécaniques (MEMS) et des tests de bord actif. De plus, une macro-bibliothèque intégrée permet aux utilisateurs d'automatiser des processus sophistiqués. La machine dispose d'un logiciel intuitif qui dispose d'un éditeur de macro glisser-déposer pour les utilisateurs pour définir la séquence de test et les paramètres. L'enregistrement et la déclaration des résultats peuvent être enregistrés et exportés au format Gerber populaire. En outre, l'outil peut enregistrer des données de test à un large éventail de bases de données, y compris Oracle, SQL Server, et My SQL. CDE RESMAP178 est également remarquable pour son interface graphique conviviale, qui permet aux utilisateurs de configurer rapidement l'actif et nécessite un minimum de connaissances spécialisées. Le modèle facile à utiliser est livré avec un ensemble validé de normes c k. Cela garantit des résultats de mesure reproductibles et précis. Le RESMAP 178 dispose également d'un module automatisé intégré de contrôle des processus statistiques qui permet d'obtenir des résultats de mesure précis. RESMAP178 est la solution idéale pour les exigences d'essai et de métrologie dans l'industrie des wafer testing. Ses caractéristiques sophistiquées et faciles à utiliser en font un outil essentiel pour la production de semi-conducteurs.