Occasion CDE RESMAP 178 #9366696 à vendre en France

Le CDE RESMAP 178 est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour répondre aux besoins rigoureux de l'industrie des semi-conducteurs. Le système offre une variété d'outils de métrologie, d'un seul microscope de précision intégré à des profilomètres laser très sophistiqués, capables de mesurer la hauteur, la surface et l'information de défaut sur toute la face de la plaquette. CDE RESMAP178 est conçu pour maximiser le débit et capturer même les détails les plus complexes des surfaces de plaquettes. L'unité comprend une grande variété d'outils de test de plaquettes, d'imagerie et de microscopie. Le microscope à lentille Z intégré sur mesure est capable de capturer des images haute résolution à x200 grossissement de toute la surface de la plaquette. Le microscope est équipé de filtres optiques et de lasers qui offrent une gamme de fonctionnalités, telles que le balayage sur une variété d'angles, la mesure de la hauteur et de la pente des défauts, et diverses capacités d'autofocus. De plus, la machine propose un profilomètre laser sur mesure et un microscope confocal chromatique. Le profilomètre laser, capable de zoomer jusqu'à 800 fois, permet à l'opérateur de mesurer, d'afficher et de stocker les informations de hauteur, de surface et de défaut des plaquettes. Le microscope confocal chromatique est capable de capturer des images tridimensionnelles de sites de défauts et est également utilisé pour mesurer la rugosité de surface. L'outil est en outre équipé d'un scanner de fluide métallurgique, capable d'identifier rapidement et de manière fiable la contamination des métaux et d'autres défauts. En outre, l'actif offre une variété d'outils de microscopie supplémentaires puissants, tels qu'un microscope acoustique à balayage, microscope ionique à balayage et scans dispersifs d'énergie, permettant à l'utilisateur de mesurer et de quantifier une gamme de propriétés, telles que la topologie et les propriétés électriques. Dans l'ensemble, RESMAP 178 est un outil essentiel pour l'essai des plaquettes et la métrologie. En plus d'offrir un certain nombre de fonctionnalités très avancées, le modèle est conçu pour un débit élevé, la flexibilité et la précision. La capacité de fournir une vue complète de la surface de la plaquette et d'autres informations sur les défauts, rapidement et de façon fiable, fait de l'équipement une ressource précieuse pour les fabricants de semi-conducteurs.