Occasion CDE RESMAP 273 #293665012 à vendre en France

Le CDE RESMAP 273 est un équipement automatisé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour mesurer rapidement et avec précision les propriétés critiques des plaquettes à semi-conducteurs. Il s'agit d'un appareil haute précision et rapide, capable de prendre de nombreuses mesures sur une seule plaquette en quelques instants. Le système est équipé d'une unité d'imagerie avancée qui permet une visualisation optimisée des plaquettes pour les mesures. Cette machine de précision est conçue avec une architecture modulaire composée de quatre composants primaires : la carte de capture et d'analyse d'images, la carte de traitement des plaquettes, le processeur de pixels image et le processeur de résultats de données. La carte de capture et d'analyse d'images utilise la lumière laser éclairée pour analyser la surface de la plaquette. L'image est ensuite transférée à la carte de manutention de la plaquette, qui est responsable de la manipulation proprement dite de la plaquette. Le processeur de pixels d'image effectue alors plusieurs types différents d'analyse d'image pour mesurer des caractéristiques critiques à l'aide d'algorithmes automatisés. Le processeur de résultats de données reçoit l'analyse du processeur de pixels image et la mémorise. Les données peuvent être analysées ou transférées à des dispositifs externes, ce qui permet une analyse ou une prise de décision plus poussée. Pour plus de précision, l'outil comprend un actif optionnel de vérification de position qui peut également prendre des mesures de la taille, de la forme et de l'emplacement de la plaquette. En plus de ses capacités automatisées, RESMAP 273 offre également des capacités d'analyse manuelle. Cela comprend une interface utilisateur graphique interactive puissante qui facilite l'identification et l'interprétation des données de la plaquette. Il dispose également d'une vaste bibliothèque de recettes de test, ce qui facilite la mise en place rapide de tests pour une variété de caractéristiques de plaquettes. CDE RESMAP 273 est un modèle puissant conçu pour fournir une analyse automatisée précise et rapide des propriétés des plaquettes semi-conductrices. C'est un choix idéal pour les fabricants qui recherchent des capacités de test de précision et de métrologie. Avec sa conception modulaire et ses fonctionnalités facultatives, il peut mesurer rapidement et avec précision les caractéristiques critiques des plaquettes pour une variété de types d'applications de plaquettes.