Occasion CDE RESMAP 273 #293818767 à vendre en France

ID: 293818767
Mapping system Accessory box: resistor pack, probe head (type F) SECS (Semiconductor Equipment Communication Standard) communication protocol Auto vacuum chuck PC Operating system: Windows XP Missing parts: Monitor Keyboard Mouse Notch sensor.
Le CDE RESMAP 273 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour mesurer la qualité d'une plaquette pendant le processus de fabrication. Il dispose d'un système d'inspection automatisé des plaquettes très précis et d'un capteur sur mesure qui permet une analyse intensive des plaquettes dans les spectres visible et proche infrarouge. Le dispositif peut également détecter et analyser des déformations subtiles dans des structures de plaquettes, contribuant à assurer un contrôle de qualité cohérent tout au long du processus de fabrication. RESMAP 273 utilise une combinaison d'algorithmes d'ingénierie de précision et de vision avancée par ordinateur pour analyser les données de métrologie des plaquettes. Son appareil photo stéréo intégré associe une imagerie haute résolution à une perception de profondeur exceptionnelle, tandis que son logiciel puissant permet de mesurer simultanément jusqu'à 8 plaquettes avec une seule image. La cartographie 3D de surface, la détection de la contamination des particules et l'analyse métrologique 2D complète sont également possibles avec le CDE RESMAP 273. L'appareil est également équipé d'une machine de chargement automatisé des plaquettes qui fournit un chargement et un déchargement rapides et précis des plaquettes. Cet outil est conçu pour gérer une grande variété de tailles de plaquettes ainsi que des épaisseurs multiples. Le matériel de chargement est également équipé d'un modèle de focalisation automatique qui assure que les plaquettes restent en contact permanent avec la tête d'inspection pendant l'inspection. Pour garantir des résultats fiables, RESMAP 273 est conçu avec un équipement intégré de détection des rayures qui élimine les rayures pendant le processus de mesure. Ce système est conçu pour détecter et éliminer rapidement les surfaces rayées du plan focal, assurant ainsi des résultats de métrologie précis. Bref, le CDE RESMAP 273 est un outil de métrologie innovant pour surveiller et analyser la qualité de la fabrication des plaquettes. Combinant une ingénierie de précision de pointe, des algorithmes avancés de vision par ordinateur et des mécanismes automatisés de chargement et de déchargement, RESMAP 273 permet des niveaux plus élevés de précision et d'efficacité lors de la mesure de la métrologie des plaquettes.
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