Occasion CDE RESMAP 273 #293827097 à vendre en France

Le CDE RESMAP 273 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie spécialement conçu pour fournir des mesures précises et fiables des plaquettes semi-conductrices. Le système utilise l'interférométrie optique pour produire des cartes topographiques très précises avec une résolution au niveau du nanomètre, tout en fournissant une analyse automatisée de la rugosité de surface, des particules, de l'intégrité thermique, de la défectivité et d'autres paramètres critiques. L'unité hautement intégratrice permet d'automatiser le test et l'analyse de plusieurs plaquettes simultanément, avec différentes tailles de plaquettes allant de 5 à 300mm. Les capacités de mesure du RESMAP 273 sont divisées en deux niveaux opérationnels différents. Le premier, le balayage automatisé, permet à la machine de capturer des cartographies topographiques point à point de haute fidélité en mode simple et en mode plein diamètre. Grâce à la reconnaissance automatisée des motifs, les données de mesure sont acquises jusqu'à 400 fois la vitesse de surface des méthodes manuelles, ce qui donne des informations très détaillées au niveau des pixels pour une analyse plus approfondie. Le deuxième niveau opérationnel, l'analyse automatisée, permet des mesures avancées telles que l'astigmatisme, la gamme et l'écart résiduels, les corrections d'encombrement, la planéité, l'inspection du dos et l'irrégularité locale. Grâce à des algorithmes intelligents et des logiciels dédiés, chacun de ces paramètres est représenté avec précision et mis à disposition en quelques minutes pour une étude plus approfondie. Le CDE RESMAP 273 offre également des fonctionnalités de connectivité améliorées pour assurer un transfert continu des données vers d'autres systèmes compatibles tels que les outils d'examen des défauts, les logiciels C2O, les visualiseurs de traces SEM, les systèmes CD et OCR. En outre, l'outil est conçu pour offrir un maximum de fonctionnalités d'accès à distance, permettant le transfert, le contrôle et l'intégration de données pratiques et sécurisées avec des sites distants. De plus, l'actif utilise un processus d'étalonnage optique breveté qui utilise deux lasers et un optomasque unique pour détecter la dérive des performances du modèle. Cela élimine la présence de faux rapports de données et garantit l'exactitude et la fiabilité de chaque application. Dans l'ensemble, RESMAP 273 est un outil puissant qui offre précision, vitesse, connectivité et évolutivité. Avec ses caractéristiques avancées et sa structure automatisée, l'équipement permet aux fabricants de semi-conducteurs et aux professionnels de maximiser les performances d'essai et de métrologie des plaquettes.