Occasion CHAPMAN MP2000+ #9361806 à vendre en France

CHAPMAN MP2000 + est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie. Il est conçu pour mesurer et caractériser avec précision les caractéristiques des sous-microns sur les plaquettes, ainsi que pour fournir une variété d'autres mesures et essais essentiels. Le système est entièrement automatisé et intègre des systèmes d'imagerie, de métrologie et de traitement d'échantillons de pointe. La plate-forme de mouvement avancée ultra-précise peut caractériser rapidement et avec précision les caractéristiques minuscules sur une variété de substrats, y compris les photomasques et les plaquettes. MP2000 + utilise un étage de positionnement 4 axes pour positionner rapidement et avec précision les coordonnées de mesure sur le haut de la plaquette. Cette unité d'entraînement est entraînée par une grille géométrique et superposée, permettant un alignement et un positionnement extrêmement précis de la plaquette pour chaque mesure individuelle. Les interféromètres laser sont utilisés pour fournir une rétroaction de position précise et une correction de frein pour la machine de positionnement XYZ, permettant une résolution et une répétabilité sous microns pour chaque essai. L'outil contient également un atout d'imagerie au microscope haute résolution qui permet à l'utilisateur de visualiser les fonctionnalités sur la plaquette en temps réel, fournissant un regard détaillé sur la disposition et la structure de la plaquette. La caméra CCD du microscope détecte la lumière émise de la surface de la plaquette et affiche l'image sur le moniteur pour une visualisation et une manipulation immédiates. De plus, CHAPMAN MP2000 + dispose d'un puissant interféromètre laser 20W pour mesurer, coudre et mesurer des micro-structures. Ce modèle de détection puissant assure la plus grande précision pour chaque test, permettant la détection et l'analyse des caractéristiques de la plaquette. De plus, l'équipement intégré d'excitation laser 20W permet à l'utilisateur de détecter et de mesurer d'autres caractéristiques de surface, telles que des bosses, des rayures ou de la corrosion. Enfin, le système dispose d'une grande vitesse d'acquisition et de traitement des données, avec une interface graphique intuitive et des outils d'analyse intégrés. Ceci fournit à l'utilisateur des résultats instantanés, permettant un contrôle détaillé du processus et des aperçus en temps réel sur les performances de la plaquette. En résumé, MP2000 + est une puissante unité de test et de métrologie de plaquettes conçue pour la fabrication de semi-conducteurs. Il intègre la technologie avancée de mouvement, d'imagerie, de métrologie et de manipulation d'échantillons pour les mesures de plaquettes les plus précises. Les systèmes d'excitation laser et d'interféromètre offrent une précision et une résolution inégalées, tandis que l'acquisition de données et l'interface utilisateur graphique permettent des résultats de tests instantanés et un contrôle de processus en temps réel.