CYBEROPTICS (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre

CyberOptics est l'un des principaux fabricants d'équipements d'essai et de métrologie utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs. Leurs technologies avancées fournissent des mesures et des inspections de haute précision pour les processus de production des plaquettes. Un exemple de leur système de test de plaquettes est le Cyberscan Vantage, qui offre une inspection par balayage 3D sans contact des plaquettes. Il est capable de détecter les défauts et d'analyser les paramètres critiques, tels que les bosses, les rayures et les contaminants. Le système est conçu pour les petites et grandes tailles de plaquettes, offrant flexibilité et précision. Un autre produit notable est le système de métrologie EX-43Q wafer. Il s'agit d'une solution d'inspection 3D et de métrologie pour l'inspection des plaquettes structurées. Le EX-43Q peut mesurer les dimensions critiques, y compris la topographie, le recouvrement et l'élimination des bourrelets (EBR). Ce système fournit des données essentielles pour le contrôle des processus, l'amélioration des rendements et l'amélioration de l'efficacité de la production. Les systèmes de test et de métrologie des plaquettes CyberOptics offrent plusieurs avantages. Ils offrent des capacités de mesure haute vitesse et haute résolution, ce qui améliore la précision et la fiabilité. Ces unités assurent également un meilleur contrôle des processus, réduisant le temps et les coûts associés aux défauts de production. De plus, CyberOptics propose des progiciels complets qui permettent l'analyse des données, la cartographie et le reporting personnalisé. Dans l'ensemble, les machines de test et de métrologie des plaquettes de CyberOptics, comme les Cyberscan Vantage et EX-43Q, sont des outils de pointe qui aident les fabricants de semi-conducteurs à maintenir les normes de qualité les plus élevées et à optimiser leurs processus de production.