Occasion DNS / DAINIPPON LAW-815A #9051403 à vendre en France

DNS/DAINIPPON LAW-815A est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes pour l'essai et l'analyse de plaquettes semi-conductrices. Il est utilisé pour l'analyse de défauts non destructifs jusqu'à 300mm de plaquettes. Il utilise l'optique laser avancée pour la détection précise et la localisation de transistors défectueux, de fils et d'autres composants sur la plaquette. Le système DNS LAW-815A dispose d'une plate-forme d'inspection avec une caméra ultra haute résolution pour les fonctions analytiques comme l'analyse des défauts. La caméra est intégrée à une unité de manipulation de précision, lui permettant de se focaliser avec précision et de pointer vers des emplacements spécifiques d'intérêt à la surface de la plaquette. L'unité comprend également un algorithme de détection des défauts de plaquettes en trois étapes. La première étape se concentre sur la détection des défauts non motivés, la deuxième étape recherche les défauts motivés, et la troisième étape aide à la classification du type de défaut. DAINIPPON LAW-815A possède également des capacités d'intelligence du signal (SIC) à haute puissance pour aider à identifier et à calculer les caractéristiques du signal à partir des données de la plaquette. Ceci permet une analyse plus détaillée des défauts, améliorant ainsi le rendement global du procédé de la plaquette. En outre, la machine permet également de mesurer des paramètres de processus comme la température, l'humidité et la concentration de particules. LAW-815A est capable de détecter et d'analyser plus de 500 types de défauts dans chaque tranche. Il prend également en charge divers protocoles d'essai, dont l'imagerie 2D, la diffraction des rayons X, la microscopie à haute résolution et la microscopie à force atomique (AFM). Sa précision et sa précision sont encore améliorées par des fonctions avancées de numérisation et de cartographie. DNS/DAINIPPON LAW-815A est une solution de test fiable et rentable. Il est conçu pour supporter des lignes de production à haut volume et des processus de wafer à grande échelle. Ses capacités avancées et sa précision garantissent les mesures les plus précises et fiables de la détection des défauts, ce qui en fait un élément essentiel de l'industrie des semi-conducteurs.