Occasion DNS / DAINIPPON LAW-815A #9051404 à vendre en France

DNS/DAINIPPON LAW-815A est un équipement d'essai et de métrologie utilisé pour mesurer les performances et les caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs à couches minces. Ce système est utilisé dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs pour évaluer la qualité des prototypes de dispositifs semi-conducteurs avant leur production en série. Le DNS LAW-815A se compose d'un corps principal, d'un étage de microscope et d'une cartouche d'optique. Le corps principal sert de centre de commande de l'unité, et abrite le CPU principal, le logiciel, le panneau tactile LCD, l'unité d'entraînement, et l'alimentation. L'étage microscope est chargé de déplacer l'échantillon tout en obtenant des images du dispositif à tester. Enfin, la cartouche optique comprend l'optique et les détecteurs nécessaires à la capture d'images de l'échantillon, et à la mise en oeuvre de diverses techniques de métrologie optique. DAINIPPON LAW-815A est capable d'effectuer une grande variété d'essais tels que l'analyse de surface, les mesures de profil 3D submicronique, les mesures de jonction tunnel, la microscopie optique, la microscopie électronique à balayage, la microscopie à force atomique, les mesures d'épaisseur de film optique et l'imagerie en champ sombre. De plus, cette machine est capable de mesures automatisées pour évaluer les performances des dispositifs au fur et à mesure de leur développement. LAW-815A est également capable de fournir des informations détaillées sur les propriétés électriques des dispositifs semi-conducteurs à couches minces. Par exemple, l'outil peut mesurer avec précision la résistance, le courant de fuite et la capacité des transistors, ainsi que la conductivité électrique et la résistivité des couches minces. DNS/DAINIPPON LAW-815A est un atout puissant mais compact, capable de fournir des informations détaillées sur les performances et les caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs à couches minces. Avec son logiciel sophistiqué et son optique avancée, cet appareil fournit une analyse complète des prototypes d'appareils avant qu'ils ne soient produits en série. Ses capacités automatisées permettent des tests rapides et précis, ce qui en fait un équipement inestimable dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs.