Occasion DNS / DAINIPPON / SCREEN WS-8200 #9384147 à vendre en France

L'équipement DNS/DAINIPPON/SCREEN WS-8200 d'essai de plaquettes et de métrologie est une plate-forme technologique de pointe utilisée dans la fabrication de semi-conducteurs et d'écrans plats. Il utilise une méthode de contrôle optique sans contact pour vérifier les défauts avant, pendant et après le processus de fabrication. Au cœur du système se trouve une unité de contrôle optique 2D et 3D sans contact de pointe. Il est capable de mesurer avec précision les formes, les irrégularités, les défauts et la lumière diffusée de la surface de l'échantillon et de les analyser en temps réel pour la détection des défauts en vol. Il offre également une large gamme de capacités de parallélisation qui permettent d'optimiser les taux d'échantillonnage et d'inspection pour répondre aux besoins des clients. La machine utilise également plusieurs technologies avancées telles qu'un outil d'éclairage N-faisceau propriétaire qui fournit une large gamme de formes de diffraction et de diffusion pour détecter les défauts. Des systèmes avancés d'inspection optique sans contact (ONCIS) sont utilisés pour détecter ces défauts en temps réel et avec très peu de destruction d'échantillons. L'actif utilise également une série de techniques de mesure de coordonnées et de métrologie pour analyser le profil de surface de l'échantillon pour déceler les défauts et les irrégularités. Le modèle 3D d'inspection optique sans contact et de métrologie peut également être utilisé pour mesurer des topographies et des caractéristiques tridimensionnelles telles que la hauteur, les profondeurs, les largeurs, les pentes et les profils de surface, entre autres. Cela facilite les tests rapides de premier article et des vérifications similaires qui éliminent la nécessité de traiter les échantillons physiques et aident à économiser du temps et de l'argent. DNS WS-8200 est également équipé d'un microscope à balayage laser automatisé qui mesure les paramètres physiques et aide à la localisation des défauts. Cela aide à optimiser le débit d'inspection, à réduire les faux positifs et permet des mesures plus précises qui peuvent être utilisées pour l'analyse et le diagnostic. SCREEN WS-8200 offre également une variété d'outils logiciels pour analyser les images défectueuses en temps réel. Ces données peuvent ensuite être utilisées pour optimiser les paramètres de processus pour la réduction des défauts et l'amélioration du rendement de la ligne. En outre, l'équipement offre un ensemble complet d'outils vidéo et d'images pour surveiller les caractéristiques des appareils pendant le fonctionnement, ce qui permet de prendre des décisions de contrôle de qualité tôt. Dans l'ensemble, WS-8200 wafer testing and metrology system est une plate-forme technologique de pointe utilisée dans la fabrication de semi-conducteurs et d'écrans plats qui combine un large éventail de techniques d'inspection optique sans contact et de métrologie avec une gamme d'outils logiciels pour aider à améliorer le rendement des lignes, réduire les faux positifs et réduire au minimum le besoin de traiter des échantillons physiques.