Occasion DNS / DAINIPPON VLM 800LS #188558 à vendre en France

DNS / DAINIPPON VLM 800LS
ID: 188558
Taille de la plaquette: 8"
Thin Film Measurement System, 8".
DNS/DAINIPPON VLM 800LS Wafer Testing and Metrology Equipment est une machine avancée pour la mesure automatisée des facteurs de forme et l'essai des matériaux des wafers semi-conducteurs. Ce système peut être utilisé dans diverses tâches d'inspection pour la métrologie des plaquettes, y compris la mesure de l'épaisseur des plaquettes, de l'arc, de la chaîne et de divers paramètres de surface. L'unité se compose d'une console de commande ergonomique, de têtes de mesure, d'un ordinateur principal et d'un logiciel puissant pour la programmation et le contrôle de mesure. La console de commande abrite l'affichage, les panneaux de contrôle et l'ordinateur principal qui permettent aux utilisateurs d'interagir avec la machine pour la programmation et le contrôle de mesure. L'outil de DVM800 LS peut travailler avec les types différents de têtes de mesure de non-contact, tels que le courant de tourbillon, la lumière blanche interferometry et les têtes de photographie. Cela permet à l'actif de mesurer l'épaisseur de la plaquette, l'arc, la chaîne et d'autres paramètres. L'ordinateur principal du modèle est utilisé pour la programmation, le contrôle de mesure et la communication de données. Cet ordinateur exploite également un logiciel puissant qui permet aux utilisateurs de configurer et de programmer les paramètres de mesure et de surveiller et contrôler avec précision les performances de l'équipement. Le logiciel enregistre également des données de test pour analyse qui peuvent être téléchargées sur un PC hôte pour analyse ultérieure. Les têtes de mesure sont équipées d'optiques avancées, de lasers et de lentilles pour des mesures précises et à haute résolution. L'ordinateur principal est connecté à la tête pour l'acquisition et le contrôle des données. Le système peut mesurer des caractéristiques telles que la hauteur du pas, le point d'extrémité, le pic à la vallée, l'indice total et l'épuisement avec une grande précision. De plus, l'unité peut mailler et mesurer des produits de grande surface tels que des affichages à panneaux plats en peu de temps. Enfin, la machine dispose également de fonctions de sécurité telles que la surveillance des mouvements, le lockout/tagout, et E-Stop qui préviennent les accidents et assurent la sécurité des opérateurs. Dans l'ensemble, DNS VLM 800LS Wafer Testing and Metrology Tool est une machine très avancée et fiable pour la mesure automatisée des facteurs de forme et l'essai des matériaux des plaquettes semi-conductrices. L'actif est doté d'un design ergonomique, d'un logiciel puissant, d'une optique avancée et de caractéristiques de sécurité qui en font un choix idéal pour les tâches de métrologie de plaquettes.
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