Occasion DNS / DAINIPPON VM-2010 #9134045 à vendre en France
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DNS/DAINIPPON VM-2010 est un équipement d'essai et de métrologie en plaquettes conçu pour la mesure et l'analyse des processus et des niveaux de production. Le DNS VM-2010 comprend de nombreux composants, dont le système de métrologie numérique (DMOS) de DAINIPPON VM 2010, l'unité automatique de microscopie optique (OMAS) et l'unité de microscopie électronique à balayage (SEMU). DAINIPPON VM-2010 DMOS est composé d'une machine de métrologie optique avancée Acculine qui est conçue pour effectuer une variété de mesures, telles que des largeurs de ligne, des hauteurs de conducteurs de grille et des angles de flanc. L'OMAS est un outil de microscope optique haute résolution avec un étage automatisé et une capacité d'autofocus qui permet l'imagerie et l'analyse 3D. La SEMU offre aux utilisateurs des modes d'imagerie en direct et dynamique avec des résolutions jusqu'à 1nm. VM 2010 dispose également d'un certain nombre d'autres capacités, telles que la révision des défauts et l'isolation optique des défauts. La fonction d'examen des défauts est utilisée pour l'analyse des défauts de la plaquette, tandis que la capacité d'isolation optique des défauts est utilisée pour isoler avec précision les défauts situés dans la plaquette. De plus, VM-2010 permet des mesures qui peuvent être utilisées pour évaluer la planéité de la plaquette, la rugosité de surface, la résistance de contact, la largeur de grille, les recouvrements et le contraste d'image. DNS VM 2010 est conçu pour fournir aux utilisateurs des tests et une métrologie efficaces et précis pendant le processus de fabrication des plaquettes. En utilisant DNS/DAINIPPON VM 2010, les utilisateurs sont en mesure d'identifier rapidement et efficacement tout défaut potentiel dans la plaquette, ce qui leur permet de prendre des mesures correctives sans subir de longs retards dans le processus de fabrication. L'actif est également très flexible, permettant des réglages et des analyses personnalisés sur différents types de wafers et de processus. Dans l'ensemble, le modèle DNHDNS/DAINIPPON VM-2010 est un modèle puissant et polyvalent d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir aux utilisateurs une analyse rapide et précise de différents types de processus et de plaquettes. De ses composants de métrologie avancés à ses capacités d'analyse polyvalentes, DNS VM-2010 est un outil très efficace pour les essais de plaquettes et la métrologie.
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