Occasion DNS / DAINIPPON VM-2010 #9158763 à vendre en France

DNS/DAINIPPON VM-2010 est un outil avancé d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour une précision et une précision supérieures dans la mesure des plaquettes semi-conductrices. Il offre une solution entièrement automatisée pour des mesures de mesure à haute vitesse qui garantit un débit plus élevé et une précision améliorée. L'unité est composée de plusieurs modules calibrés en alliage individuel, chacun étant chargé d'une opération de mesure spécifique : métrologie, ramassage de matrices et transport de plaquettes. Le système entièrement automatisé d'essais de plaquettes et de métrologie effectue des mesures grâce à sa sonde à balayage tridimensionnelle (3D), utilisant le faisceau laser pour la caractérisation. Il déplace ensuite l'échantillon mesuré vers le module de prise de filière pour prélever les matrices et les fixer sur le porte-plaquettes. Enfin, il transporte l'échantillon en cours de traitement à l'unité de métrologie. Cette unité de métrologie évalue les informations de signal sur la plaquette pour la planéité et les défauts. Tous ces modules sont entièrement automatisés pour la commodité de l'opérateur et sont capables d'obtenir une répétabilité et une reproductibilité précises. L'équipement est conçu pour être extrêmement agile et robuste, permettant à l'utilisateur de s'adapter rapidement aux conditions changeantes. La modularité du système lui permet d'accueillir facilement une grande variété de mesures, comme pour l'inspection de micro-lithographie ou l'inspection de défauts. L'outil est également capable de fournir des mesures rapides et fiables sans perturber l'intégrité du produit, ce qui signifie qu'il peut également être utilisé pour des mesures sur différents substrats, y compris ceux qui sont sensibles ou susceptibles de distorsion. L'unité fonctionne sous Windows XP et offre de nombreuses fonctionnalités, telles que des interfaces graphiques conviviales, un mode pompe-filament pour effectuer des mesures multiples, une grande applicabilité, des mises à jour logicielles rapides et une connectivité à travers diverses interfaces. La machine offre une gamme complète et flexible d'options pour couvrir tous les besoins de test et de métrologie des plaquettes semi-conductrices. En outre, l'outil est capable d'offrir une résolution et une précision extrêmement élevées grâce à la technologie exclusive « Active Motivation Technology » qui réduit activement le bruit lors de la numérisation et de la binarisation des données. Cette technologie permet également d'augmenter la sensibilité et la répétabilité des sondes, en veillant à ce que des rendements très élevés soient réalisables dans les applications d'essai de plaquettes et de métrologie. Dans l'ensemble, DNS VM-2010 est un outil très sophistiqué et orienté précision qui offre une solution automatisée tout-en-un pour différents types de tests de plaquettes et de besoins de métrologie. Sa sonde de balayage 3D avancée et sa technologie de motivation active permettent des mesures rapides et de haute précision avec une excellente répétabilité, ce qui en fait une solution fiable et rentable pour divers processus d'essai et de métrologie.