Occasion E+H METROLOGY MX 2012-RA-1L #9311190 à vendre en France

L'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 2012-RA-1L est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie. Il permet des mesures manuelles ou automatisées de substrats de plaquettes pour les fabricants de semi-conducteurs, garantissant des tailles critiques et des tolérances de position respectées. Le système comporte une étape d'étalonnage automatisé pour des performances d'étalonnage et de mesure précises et cohérentes. L'unité dispose également d'une machine MEI-CMOS (Micropattern and Electrical Inspection) pour les essais non destructifs, qui assure un rapport signal/bruit élevé pour toute plage de mesure. Cela permet des résultats comparables entre chaque mesure et extrêmement précis. L'outil peut mesurer un large éventail de plaquettes, des plaquettes IGZO industrielles aux plaquettes d'actifs microélectromécaniques (MEMS). Les mesures comprennent des dimensions critiques, des mesures de couches minces, des mesures de recouvrement, des mesures de macro-défauts et des essais de résistance électrique. En outre, le modèle dispose d'un microscope électronique à balayage de haute précision (SEM) qui permet d'identifier et de mesurer avec précision un large éventail de défauts. Le SEM a également un grossissement élevé allant jusqu'à 50 000 x afin de détecter de très petits défauts. Pour les grands substrats tels que les plaquettes ou autres substrats à base de semi-conducteurs, l'équipement peut également effectuer des mesures de profil à l'aide d'un polariseur à disque de filage. Cela permet une grande précision et précision pour la mesure et l'analyse de grandes surfaces. En plus des différentes mesures, le système offre également des capacités d'analyse et de rapport. Il peut créer des rapports très détaillés qui incluent toutes les données nécessaires pour la traçabilité et l'analyse de traçabilité à des fins d'audit. L'unité dispose également de diverses fonctionnalités de gestion de données, telles que la possibilité de stocker des données sur des supports amovibles, et de transférer à distance des données de la machine vers un ordinateur externe, ou de transférer des données vers et depuis Internet. Dans l'ensemble, le E + H METROLOGY MX 2012-RA-1L est un outil de test et de métrologie avancé et très précis. Il dispose d'un large éventail de caractéristiques qui permettent des mesures précises, ainsi que des capacités de gestion des données et de rapport à des fins d'audit. Cet atout est un outil essentiel pour la fabrication et le test des semi-conducteurs.