Occasion E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q #9234105 à vendre en France

L'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-8-37-Q est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes très sensible et précis spécialement conçu pour l'ingénierie des procédés de semi-conducteurs. Il dispose d'un design robuste avec une finition noire brillante, un module d'affichage pour l'interface utilisateur, et un système d'électromètre de couche avec 8 axes/capteurs pour tester/mesurer différents paramètres. De plus, il est conçu pour fournir une précision et une répétabilité extraordinaires pour un large éventail de mesures d'essai et de métrologie de plaquettes. Le METROLOGY MX 203-8-37-Q est capable de tester des circuits intégrés jusqu'à l'échelle des plaquettes de 8 pouces. Il comprend des logiciels sophistiqués qui permettent aux utilisateurs d'analyser et de gérer une variété de différentes plaquettes, substrats et diodes, ainsi que des paramètres spécifiques au programme. En plus de ses capacités de test, le METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-8-37-Q offre également une gamme de fonctions puissantes d'étalonnage, de diagnostic et d'analyse. Il dispose d'une unité de rétroaction multi-axes et d'une résolution d'étalonnage de 1000 pas A/D. Ceci garantit une précision et une répétabilité optimales pour une variété de mesures différentes. La METROLOGY MX 203-8-37-Q est conçue pour répondre aux exigences exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs. Il est construit avec un corps en aluminium durable et non réfléchissant pour protéger les composants sensibles de l'environnement. Il est également capable de gérer les variations de température de 25 ° C à 80 ° C, et de varier les niveaux de vibration. En outre, pour assurer une sécurité et une protection maximales, il est équipé d'un certain nombre de systèmes de sécurité intégrés tels que des dispositifs anti-incendie et des filtres à interférences électromagnétiques pour limiter le rayonnement EMC. Dans l'ensemble, l'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-8-37-Q est une machine de test et de métrologie de plaquettes très efficace, précise et fiable conçue pour fournir des résultats fiables. Sa construction robuste, ses systèmes de sécurité intégrés et sa gamme de fonctionnalités polyvalentes en font un choix idéal pour une large gamme d'applications techniques de semi-conducteurs.