Occasion E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q #9227071 à vendre en France
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ID: 9227071
Style Vintage: 2007
Wafer geometry gauge
Size: 125 x 125 and 156 x 156
Thickness range: 200 µm to 600 µm
Accuracy: 1 µm
Resolution: 0.1 µm
Sensors embedded in radial pattern
Warp and Bow-BF (Does not include gravity correction)
2007 vintage.
Le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-25-Q est un équipement de pointe qui fournit des mesures précises des plaquettes utilisées pour divers types d'applications de fabrication. Ce système est équipé d'une plate-forme multifonctionnelle qui peut être utilisée de différentes manières. L'unité est conçue pour mesurer et analyser les caractéristiques physiques d'une plaquette telles que l'épaisseur, la planéité, la courbure, la rugosité et l'inclinaison. Le E + H METROLOGY MX 204-8-25-Q est équipé d'un certain nombre de technologies permettant des mesures précises et précises. Une machine de détection interféromatique est utilisée pour mesurer les contours de surface de la plaquette. Cette technologie précise est également capable de mesurer de minuscules changements incrémentaux dans la surface, assurant une représentation précise de la topographie de la plaquette. Le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-25-Q utilise également un outil de sonde optique spécialisé qui peut mesurer l'épaisseur d'une plaquette avec une précision incroyable. Cet atout permet de recueillir des données détaillées sur les caractéristiques physiques de la plaquette telles que l'épaisseur, l'uniformité, l'inégalité, la courbure et l'inclinaison. De plus, une fenêtre d'imagerie multi-focus peut également être utilisée pour capturer des images de la plaquette dans les moindres détails. Le modèle est également équipé d'un certain nombre de fonctionnalités automatisées et logicielles qui simplifient grandement le processus de test et de métrologie. L'équipement a la capacité de mesurer plusieurs plaquettes en succession rapide avec une entrée manuelle minimale. Le système logiciel peut également être utilisé pour stocker les données résultantes et les analyser automatiquement selon des paramètres prédéterminés. Le MX 204-8-25-Q MÉTROLOGIE E + H est une unité haute performance qui peut garantir des résultats précis. Sa combinaison de technologies avancées et de fonctionnalités automatisées en font un choix idéal pour tous ceux qui recherchent une machine de test et de métrologie avancée.
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