Occasion E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #293813904 à vendre en France

Le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un système avancé de métrologie 3D sans contact bien adapté aux essais et à la métrologie des plaquettes. C'est un instrument de métrologie 3D ultra haute résolution qui utilise une technologie confocale à balayage laser pour fournir des résultats très précis. L'instrument est conçu pour mesurer les caractéristiques des structures et des surfaces de la gamme nanométrique avec une précision exceptionnelle. Utilisant une combinaison de matériel et de logiciels, le MX 204-8-37-Q MÉTROLOGIE E + H est capable de scanner des surfaces entières avec une résolution extrêmement élevée. L'instrument est capable d'effectuer des mesures d'épaisseur, de profil de surface et de rugosité ainsi que des mesures en un seul point à haute résolution. Il peut également détecter des irrégularités telles que des inclusions et des pores, ainsi que mesurer des motifs sur des motifs de plaquettes avec une grande précision et précision. L'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q dispose de plusieurs dispositifs de positionnement. Il s'agit notamment d'un axe X motorisé sous la tête de balayage, d'un étage Y pour le balayage jusqu'à 500 mm et d'un étage Z qui permet le balayage de grandes structures supérieures à l'étage Y. En outre, l'instrument dispose d'un objectif de zoom optique avec un microscope vidéo haute résolution, lui permettant de scanner des caractéristiques très détaillées avec une extrême précision. De plus, le MX 204-8-37-Q MÉTROLOGIE E + H dispose d'une fonction de mise au point automatisée qui garantit des mesures fiables et stables à n'importe quelle profondeur. L'instrument offre également un logiciel très convivial qui permet à l'utilisateur de configurer et de personnaliser rapidement et facilement le système selon ses besoins. En outre, le logiciel offre de puissantes capacités d'analyse, permettant à l'utilisateur d'obtenir des informations détaillées sur les conditions de surface et de structure. Dans l'ensemble, la MÉTROLOGIE E + H MX 204-8-37-Q est un excellent choix pour la métrologie 3D sans contact des plaquettes et autres structures et surfaces très petites et complexes. Ses capacités de balayage haute résolution, combinées à sa fonction de mise au point automatisée et à un logiciel puissant, en font l'un des meilleurs choix pour les tests de wafer et la métrologie.