Occasion E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234106 à vendre en France
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ID: 9234106
Style Vintage: 2005
Wafer measurement system
Square / Pseudo-square: 125-156 mm
Gauge type: MX 204-8-25-q
Thickness range: 200 - 600 μm
Real: 180 - 600 μm
CE Marked
2005 vintage.
Le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la production et l'inspection de plaquettes haut de gamme. Il dispose d'un algorithme logiciel avancé qui peut détecter un large éventail de défauts et d'écarts dans la surface de la plaquette, y compris les fosses, les rayures, et d'autres irrégularités de surface. Le système peut également détecter une mauvaise imagerie des points critiques sur la plaquette. Le MX 204-8-37-Q MÉTROLOGIE E + H dispose d'une tête d'unité de balayage à deux faces qui permet un balayage indépendant des deux côtés d'une plaquette. Il dispose également d'un laser haute puissance qui offre une précision de mesure de surface haute résolution de 0,0001 microns. Chaque fonction permet une application précise de l'analyse des capacités finies, de la mesure des variables de jauge, de l'analyse des capacités des processus et du contrôle des processus dans un large éventail d'applications. L'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est également livré avec une variété de fonctionnalités avancées qui en font une machine dynamique et capable. Cela comprend un logiciel d'analyse puissant qui permet une analyse avancée et une évaluation statistique des données de métrologie de surface. Il dispose également d'un outil de réparation pour corriger des images avec des défauts causés par des impuretés métalliques ou autres, de la saleté ou des particules sur la surface de la plaquette. En outre, il est livré avec un logiciel de contrôle de la production qui permet de suivre et de contrôler le processus de production et permet à l'utilisateur d'identifier et de minimiser les défauts. En outre, le MX 204-8-37-Q MÉTROLOGIE E + H peut faciliter la manutention manuelle et automatisée des plaquettes, permettant une flexibilité optimale. Il est livré avec un dispositif de travail coordonné, comme un robot, pour le positionnement et le chargement des plaquettes. Il dispose également d'un outil de surveillance de la température et d'une étape de traduction 3D pour fournir une inspection et une mesure précises et efficaces. L'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q offre des capacités supérieures d'inspection et de métrologie des plaquettes, permettant le plus haut niveau de production et d'inspection des plaquettes. Grâce à son algorithme logiciel de pointe, sa tête d'actif à balayage double face, son puissant faisceau laser, son logiciel de contrôle de la production, ses capacités de manutention manuelle/automatisée des plaquettes, son modèle de surveillance de la température et sa phase de traduction 3D, l'équipement est capable de détecter et de corriger les défauts et les écarts sur la surface des plaquettes avec précision et au-delà des méthodes d'inspection traditionnelles.
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